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混合信号总线测试实验

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摘要使用本院CAT研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明，IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的，同时指出其局限性。

DOI g4q28xxn48/2171572

作者李正光;雷加

机构地区不详

出处《电子元器件应用》 2003年10期

关键词混合信号电路测试总线测试实验 KLIC

分类 [电子电信][电路与系统]

出版日期 2003年10月20日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

电子元器件应用

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