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《洗净技术》
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2004年1期
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关于离子污染测试的发展和讨论
关于离子污染测试的发展和讨论
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摘要
本文着重介绍用于对清洗后电路板上的残余离子污染物的测试手段,国外关于此领域的相关标准以及这些相关标准和手段的发展过程.比较了不同仪器的一些主要参数和应用现状,部分用户需求动向和如何满足的方法.
DOI
pj0zvn9x4y/2203299
作者
黄汉松
机构地区
不详
出处
《洗净技术》
2004年1期
关键词
清洗
电路板
离子污染物
电阻率
电导率
原子吸收
分类
[电子电信][物理电子学]
出版日期
2004年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
洗净技术
2004年1期
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