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基于单片机的数字电路功能测试仪的设计

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摘要文章介绍了在实验室环境下,采用单片机最小系统测试数字集成电路的方法.该设计据有硬件简洁、软件编制方便灵活特点,对于通用集成电路可利用固化在片内的品种数据表测试.测试结果通过发光管表示.

DOI kwjv2ykkd7/246002

作者刘昌珍

机构地区不详

出处《无锡商业职业技术学院学报》 2004年4期

关键词数字集成电路功能测试单片机

分类 [经济管理][产业经济]

出版日期 2004年04月14日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

无锡商业职业技术学院学报

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