NI最新推出200MS/sPXI数字化仪和任意波形发生器

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摘要 NI宣布推出2款最新的采样率为200MS/s的模块化仪器,将混合信号测试的性能提升至一个全新的高度。这2种全新的模块是基于NI的同步和存储核心(SynchronizationandMemotyCore,简称SMC)架构成功开发的,使得NI数字化仪和任意波形发生器系列产品的采样率和板载存储容量获得双倍提高。结合了NI高精密DC、RF和高速数字PXI仪器,这2款模块是一系列应用,例如消费电子、
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机构地区 不详
出处 《测控自动化》 2004年12期
出版日期 2004年12月22日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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