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单片机受电磁辐射时的灵敏度

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摘要现代电子电路受到诸如HEMP、UWB-EMP、HPM和SGEMP辐射时，轻则引起电路的瞬时扰动，严重时导致系统功能完全失效。本文研究了同一单片机电路在HEMP、HPM和UWB-EMP辐射下的灵敏度。

DOI ojzllo0yd5/349694

作者谢泽元;杨蓉

机构地区不详

出处《中国工程物理研究院科技年报》 2003年1期

关键词单片机电磁辐射灵敏度电路结构

分类 [理学][物理]

出版日期 2003年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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