有关控制器测试工装放电技术的研究

在线阅读 下载PDF 导出详情
摘要 摘要:为了能够保证整机产品性能合格,每一单控制器都经过功能测试进行筛选,主板上的半导体器件容易受到静电、过电损伤而导致器件功能失效。通通过功能测试可以筛选出在测试岗位前已经失效的器件,测试工装给主板进行供电,工装外接负载来模拟整机进行测试各模块的运行情况。功能测试可以有效筛选出有问题的控制器,但是工装电源电压不稳、放电不彻底时也会损伤控制器,使得筛选环节成为过电隐患的来源。基于此种情况下,本文就对控制器测试工装放电技术的相关内容展开分析,希望能够给有关工作人员提供参考价值。
出处 《科学与技术》 2021年10期
出版日期 2021年07月27日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
  • 相关文献