摘要
摘 要: 电路板的弯曲与变形测量,一直是机械工程领域中的重点问题。传统的物体形状测量方法准确度往往不高,且方法繁琐,但是通过运用数字或全息干涉的方式检测具有敏感度较高,装置简便,无损伤待测物等优势,已在电子工程上被普遍使用,特别是在检测电路板的弯曲变化等方面具有优越性。随着电子图像器件与计算机的不断发展提高,全息摄影干涉技术又步入了一个全新的历史阶断。本文中利用采用菲涅耳数字全息干涉术,进行了对集成电路板表面的连续扭曲变形检测。
出版日期
2021年11月17日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)