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泰瑞达在SEMICON China展出J750Ex和Magunm EV平台

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摘要 3月18日，泰瑞达公司连续第八年参加SemiconChina展，展出了J750Ex测试系统和NextestMagunmEV平台。此外，泰瑞达半导体测试部门总裁MarkJagiela先生还参加了3月19日举行的测试界CEO高峰论坛。日前，泰瑞达公司已经在中国安装了1600多套半导体和电路板测试系统。

DOI kd2ne50rd6/592186

作者

机构地区不详

出处《电子与封装》 2008年4期

关键词 SEMICON 平台 EV SEMICON 泰瑞达公司半导体测试

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2008年04月14日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）