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电子元器件气候试验的检测方法探讨

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摘要摘要：在当前的市场经济系统下，作为电子元器件重要一部分的电子元器件及其质量与产品功能的实现密切相关，受到业界的广泛关注，今后加强电子元器件的检测将成为今后发展的主要趋势。基于此，对电子元器件气候试验的检测方法进行研究，以供参考。

DOI 7dmgwrxedn/6683054

作者邹金林

机构地区身份证号：420124197911271618

出处《建筑创作》 2022年17期

关键词电子元器件气候试验检测方法

分类 [][]

出版日期 2022年12月15日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）