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浅谈科技管理在芯片阻抗测试中的应用
浅谈科技管理在芯片阻抗测试中的应用
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摘要
摘要:运用科技管理思维针对芯片阻抗测试项目进行分析和优化,达到降低研发成本,提高科技创新效率。本文基于科技管理的角度分析芯片阻抗测试项目过程控制和组织对效率和成本影响。
DOI
2d3kzv67j9/6763719
作者
朱小炜
机构地区
西南交通大学 四川 成都 610031
出处
《科技新时代》
2022年18期
关键词
芯片阻抗测试,组织,控制,科技管理
分类
[][]
出版日期
2023年01月09日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
科技新时代
2022年18期
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