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  • 简介:采用大面积半绝缘型GaN(semi—insultingGaN,SI—GaN)晶体制备了电流型GaN辐射探测,研究了探测伏安(I—V)特性、7射线响应特性、灵敏度、电荷收集效率、脉冲响应等物理性能。结果表明,晶体表面与金属形成了良好的欧姆接触,探测在600V偏压下暗电流低于400pA,电荷收集效率高于40%,探测脉冲响应时间在ns量级。

  • 标签: 半绝缘型GaN 半导体探测器 电荷收集效率