简介：高频开关动作产生的振荡对对数字采样有一定的影响，以Boost型PFC电路为例，分析了受影响区间，进而提出线性外推的改进算法，最后把此算法运用到一个实验模型中，实验结果证明了该算法的有效性。
一种改进的DSP固定点采样算法
