简介：摘要：低温傅立叶变换红外光谱技术（FTIR）为多晶硅材料中的杂质分析提供了一种高灵敏度和高分辨率的检测手段。该技术通过测量样品对特定频率红外光的吸收，有效识别并定量分析了碳、氧、硼、磷等关键杂质元素。这些杂质的含量直接影响多晶硅的电学性能和材料品质，对太阳能电池和微电子器件的性能至关重要。通过优化杂质控制策略，包括改进晶体生长技术、生产环境净化和后续加工处理，可以显著提升多晶硅材料的纯度和一致性。随着技术的不断发展，预计FTIR技术将进一步提高测试精度和效率，为半导体材料的未来发展提供坚实的科学基础，并推动太阳能技术和微电子产业的持续进步。
客服QQ：30444492琼网文【2021】1550-113号
增值电信业务经营许可证：琼B2-20210322
出版物经营许可证：新出发龙华出字第(2021)009号
广播电视节目制作经营许可证：(琼)字第00779号
版权所有 ©2002-2024 期刊网(www.qikanchina.com) 琼ICP备2021005105号
