学科分类
/ 1
1 个结果
  • 简介:本文介绍了自主研发软件“STseis叠前成像系统”偏移速度分析技术,包括叠前偏移剩余曲率分析技术和叠前偏移速度扫描技术。这些偏移速度分析技术与STseis成像系统中相关的叠前时间偏移和叠前深度偏移模块相配套,可以为叠前时间偏移和叠前深度偏移提供更精确的成像速度。

  • 标签: 自主研发 剩余曲率 速度扫描 成像系统 偏移速度