简介：**摘要**：随着光伏产业的迅猛发展，硅片作为光伏电池的核心组件，其质量直接影响到电池的光电转换效率。硅片厚度的均匀性及线痕缺陷的检测是确保硅片质量的关键环节。本文提出了一种基于光学干涉和图像处理技术的硅片厚度与线痕缺陷联合检测方法，实现了对硅片表面缺陷的快速、准确识别。实验结果表明，该方法具有较高的检测精度和稳定性，为提高硅片生产质量提供了有力支持。
光伏硅片厚度与线痕缺陷检测方法研究
