简介：着重介绍了利用耦合谐振环法测量微带基片介电常数和损耗角正切的技术,并通过软件仿真及实物测量验证了该方法的正确性及测量精确度。在1～12GHz频率范围内,介电常数测量不确定度为±3%,损耗角正切测量不确定度为±30%。该方法的测量电路易于制备,对测量环境要求较低,可用于普通的实验室测试。
简介：本文描述一种测量氢脉泽微波谐振腔参数的新方法，在一些测量中，可同时得以谐振腔的有载QL和无载Q0以及耦合系数β。
用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性
一种测定氢脉泽腔Qc值和耦合系数β的新方法
