简介:研究了通过相似扩展方式实现长基线相差定位的方法。根据相差定位原理,采用两套多基线多通道相位干涉仪,构造一个长基线测量阵列。每套相位干涉仪一方面提供目标方位,另一方面解算出被测目标在短基线上的路程差。在按几何相似递推得到对应于长基线阵列的程差值之后,由相差定位方程即可解得目标的径向距离。初步的精度分析表明,在扩展基线长度为1公里时,即可实现小于5%R的相对测距误差。
简介:提出了一种新的干涉仪测向处理技术——基于PLD硬件处理的数字式多基线干涉仪测向技术,对高速带通欠采样、数字鉴相、数字测频及解模糊算法等相关的技术进行了详细的阐述,最后给出了工程样机性能测试结果,并与国内外相关设备的技术性能进行了对比。
简介:
简介:在集成电路的陶瓷气密封装中,往往使用X射线照相技术来检查密封区的空洞情况并由此判断密封质量的好坏。通常情况下,X射线的检测结果是可信的,但是也存在由于某种原因导致焊接空洞无法为X射线所探测的情形。此外,部分具有底部热沉的陶瓷外壳,其热沉材料本身对X射线的吸收很大,会对焊接区存在的空洞的成像进行覆盖,并造成漏判。另外,X射线对于不同层面的空洞会进行图像叠加,从而无法对空洞部位进行准确定位。文中从X射线照相的原理上对此类X射线照相中的空洞漏判等现象进行了分析和探讨。
简介:随着塑封器件在武器系统中的使用越来越广泛,塑封器件在使用中也暴露出了一些问题,如塑封器件易打磨、翻新,内部易进入水汽产生爆米花效应或内部界面分层等。作者总结近几年塑封器件DPA试验中出现的各种失效,重点对塑封器件内部界面分层以及分层产生的原因、危害进行了论述。同时,论述了声学扫描显微镜检查对内部界面分层的辨别、原理及其相关试验标准等,提出了塑封器件在型号产品中的使用建议。
基于基线相似扩展的相差定位技术
基于PLD硬件处理的数字式多基线干涉仪测向技术
PCB挑战测试与检查
不可忽视的网络“健康”检查
X射线在陶瓷气密封装空洞检查中的不足
声学扫描显微镜检查在塑封器件检测中的应用
Viscom发布采用并行检查技术的新一代AOI产品S6056