简介：
简介：被测物体的发射率对红外热像仪测量温度的准确性影响突出。物质表面的发射率不仅取决于物质的内在性质,同时还取决于物质表面的各种物理状态,这些因素使得发射率的测量很复杂。从红外热像接收的有效辐射着手,获得两种计算发射率的方法,这两种方法简单实用。
碧空蓝天铸利剑——记“卡莫夫”公司两代总设计师
基于红外热像仪测温原理的物体表面发射率计算
手攀松挂触云行——济卡莫夫集团总设计师米赫耶夫
