简介：对核参数敏感度和不确定性分析的理论方法进行了探讨，在敏感度系数的基础上所定义的积分指标Esum能定量地表示出两个不同核裂变装置的相似性，即可用于定量地比较一个基准核裂变实验装置与一个欲评估核裂变装置的相似程度。不确定性的分析提供了一个计算核裂变系统中由于截面数据方差而导致系统中七疆方差的方法，并且也提供了一个计算不同核裂变系统中Keff协方差的方法。不确定性的分析方法是将截面数据的方差信息通过与能量有关的敏感度系数传播给Keff行。某一材料截面数据的方差可以传播给所有含有该材料的临界装置。有着相同材料的临界装置将产生关联。

简介：建立了燃耗耦合计算方法，并用基准题对其进行了验证。利用传统核数据库和高能数据库计算了热功率为1000MW的ADS堆芯在不同燃耗下的有效增殖因数keff、有外源的有效增殖因数keff,s、质子束流强度Ip、MA核素的嬗变率及嬗变支持比。结果表明：传统核数据库和高能核数据库下计算的keff间的最大偏差及keff,s间的最大偏差均约为1%；传统核数据库下，Ip每300d平均增加7mA，MA核素的嬗变率为29.9%，嬗变支持比为36.7，能核数据库下对应的Ip为8mA，MA核素的嬗变率为30.5%，嬗变支持比为37.3。这说明高能核数据库对MA核素嬗变物理参数的影响与传统核数据库的影响基本相当。

简介：综述了基于改进的量子分子动力学模型对超重核合成中入射道静态势的研究,重点从静态势垒高及其与质量不对称度的关系说明弹靶组合不对称有利于熔合反应的发生,而接触点驱动势最大所对应的弹靶组合为合成超重元素的最佳选择。

简介：TN2472004010183飞秒激光脉冲的谐波频率分辨光学开关法测量研究=MeasurementoffemtosecondlaserpulsesusingSHGfrequency-resolvedopticalgatingtechnique[刊,中]/王兆华(中科院物理所光物理开放实验室.北京(100080)),魏志义…∥物理学报.—2003,52(2).—362-366建立了一台谐波频率分辨光学开关法(FROG)飞秒

简介：TN2472002020999新型大功率光光束光斑质量测试仪的软件开发=Soft-waredevelpmentofanewtypehigh-powerlaserbeamqualityanalyzer[刊,中]/雷訇,李强,左铁钏(北京工业大学激光工程研究所.北京(100022))∥北京工业大学学报.—2001,27(2).—197-201采用VisualC++、VisualBasic和汇编等多种计算

简介：考虑到当今社会能源短缺问题，设计通过改变钕铁硼永磁体定位的电机，使得它们之间存在磁相互作用而产生能量。利用钕铁硼作为驱动能源，显示了一种新颖的控制磁相互作用或磁成员之间耦合的手段，坚固耐用，获得了大量的输出能量和扭矩，具有非常可观的实用及经济价值。

简介：TN2522002042748有效折射率法的研究=Studyofeffectiveindexmethod[刊,中]/孙飞,刘润民,李国正(西安交通大学电子工程系.陕西,西安(710049))∥半导体光电.—2001,22(1).—34-37分析了有效折射率法及其计算偏差的产生原因,

简介：TN2522002010399测量NLO聚合物薄膜光波导传输损耗的方法=Meth-odsformeasuringtransmissionlossofNLOpoly-merthinfilms【刊,中]/吕增海,任诠,马常宝(山东大学光学系晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100))∥光电子·激光.—2001,12(1).—101-104

简介：针对加速器驱动次临界系统（acceleratordrivensubcriticalsystem,ADS)堆芯内快中子份额大、多核素共振现象较强、液态铅锯（Pb-Bi)合金冷却剂中子增殖的特点，开发了一套用于ADS燃耗分析的MCNP多群数据库制作程序。基于最新的ENDF/B-1.1和JENDL40评价库，制作了30群阶数据库，对影响MCNP多群计算精度的能群结构、散射角分布、（n，2n)和（n，3n)反应截面进行了敏感性研究，并利用快谱基准装置和ADS堆芯模型进行了验证。结果表明，制作的多群数据库达到了较高的计算精度，计算效率较连续能量点截面MCNP程序提高1.3倍。

简介：TN2495063683超短脉冲激光的脉宽测量=Measurementoftheultrashortlaserpulsewidth[刊,中]/文国庆,张树葵,周丕璋,陈骥,邬玉婷(西南核物理与化学研究

简介：TN2596042537Brillouin光纤应变传感中的参数理论计算=TheoreticalcalculationoftheparametersinBrillouinfibrestrainsensing[刊,中]/黄民双,陈伟民,黄尚廉(重庆大学光电技术及系统开放实验室.四川,重庆(630044)),王新强(重庆大学物理系.四川,重庆)∥光通信技术.—1996,20(1).—39—44,53

简介：O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平（兰州大学物理系.甘肃,兰州（730000））,奇莉,甘润今（北京机械工业学院基础部.北京（100085））//光学学报.—1998,18（9）.—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得

简介：O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

简介：O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

简介：研究了ENT800、R10K、QP160共3种铁氧体磁环在高空核电磁脉冲（high-altitudeelectromagneticpulse，HEMP）传导防护中的应用性能，分析了磁环HEMP传导特性与磁环本身特性的关系。通过分析HEMP传导电流的能量谱与传导电流脉冲前沿的主要能量集中频段对应的磁环复相对磁导率，得出磁环相对磁导率对HEMP传导电流峰值的抑制规律以及相对磁导率的实部随HEMP传导电流脉冲前沿的变化规律。

简介：TN252005021226光纤光栅在传感应用中波长漂移的检测方案=Detectionmethodsofwavelengthshiftinopticalfibergratingssens-ingapplication[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室.陕西,西安(710065)),乔学光…//光电子技术与信息.-2004,17(5)．-49-53波长漂移量的检测是实现光纤光栅传感网络的关键技术。分类阐述了近几年来光纤光栅传感应用中主要的

简介：TB8896042600底片缺陷分析及鉴别仪器=Analysisofphotographicfilmdefectsanditsdiscriminators[刊,中]/周宏(国家照相机质量监督检验中心)∥照相机.—1995,(10).—23—25对各种一般的及特殊的情况提出底片的缺陷,并简要分析底片缺陷产生的原因,用表格形式将各种缺陷归类,并确定它属于何种类型的缺陷,以便查阅。由于肉眼直接观察来分析底片缺陷已不能满足摄影及