简介：薄膜厚度的测量通常有多种方法，但对超薄的膜厚，要达到较高精确度，且测量手段又较为简洁的，则椭偏仪法是理想的选择。本文对这种测量材料膜厚的光学方法从基本原理、仪器特点、测量过程、样品状态等方面，均作了全面的分析。

简介：为加深学生对光偏振态的理解,提出了利用偏振分光镜、二分之一波片和偏振片等光学偏振元件,进行综合实验的设计方案。利用偏振分光镜,分离出p光和s光;旋转二分之一波片或偏振片,入射光的振动方向发生变化,p光和s光光强随之改变。此实验能加深学生对光偏振知识的理解,提高学生运用光学原理和光学器件解决实际问题的能力。

简介：溶胶界西层厚应通常是用Porod法对高角区负偏离的队Porod曲线进行拟合求算，但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均阗径之差而获得平均界面厚度。应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度。

简介：利用磁谱仪得到不同能量的单能电子束,让这些电子束穿过不同厚度的铝膜,研究不同能量的电子在铝膜中的吸收系数和能损,得出吸收系数与电子能量的经验公式,与已有的吸收系数经验公式进行了比较,测量到的能损和Fluka软件模拟计算的结果进行了对比,观察到它们之间都能够较好地符合。说明该实验测量的数据和得到的质量吸收系数公式是可靠的,对β射线的防护具有重要参考价值,Fluka软件能够用于较高能量电子能损的计算。

简介：利用传输矩阵法理论，研究介质光学厚度对一维光子晶体（AB）5（ACB）2（AB）5缺陷模的影响，结果表明：随着介质A、B或C的光学厚度按奇数倍、偶数倍增大时，光子晶体主禁带中的缺陷模均向禁带中心移动，出现缺陷模向禁带中心简并的趋势，且光学厚度按奇数倍增加时简并的趋势更明显，同时缺陷模移动速度以A介质光学厚度奇数倍增大时为最快；当介质A、B或C的光学厚度按奇或偶倍数增大到一定数值时，均出现对称分布于禁带中心两侧的新缺陷模，而且光学厚度按偶数倍增大时出现的新缺陷模要比偶数倍增大时的快。介质光学厚度对光子晶体缺陷模的影响规律，对光子晶体设计窄带多通道光学滤波器件、高灵敏度光学开关等具有积极的参考意义。

简介：运用普适的嵌入原子理论(GEAM)计算了FCC结构金属铝的嵌入原子模型参数,并用该模型计算了铝的单空位形成能、双空位结合能、表面能、结构稳定性、弹性常数和声子谱等性质。计算结果与已有的实验结果相符

简介：利用Geant4工具包,采用强迫碰撞方法,模拟氘氚聚变中子与反冲质子法脉冲中子探测系统中的聚乙烯靶作用产生反冲质子的过程,计算了反冲质子在不同厚度Si-PIN半导体探测器灵敏区中的能量沉积谱,并将模拟计算结果与实验结果进行比较,分析给出了探测器灵敏区厚度。结果表明,计算得到的探测器灵敏区厚度与探测器灵敏区真实厚度在3%以内吻合,证明了模拟计算方法的可行性。同时,还计算了不同厚度的铝吸收片条件下,反冲质子在探测器灵敏区内的能量沉积,得到了沉积能量随铝吸收片厚度的变化曲线,可为反冲质子法脉冲中子探测器系统设计提供参考。

简介：提出了一种利用薄膜反射光谱包络线法计算光电薄膜光学常数和厚度的方法。当一束光照射在基板上的介质膜上时，由于薄膜上、下界面反射光的相干，会使反射光谱的曲线有一定的波动。本文对反射光谱进行了理论分析，给出计算公式，从测量曲线中的实验值得出薄膜的厚度和光学常数。此种方法计算过程简单、迅速，而且易于编程处理。

简介：降低冲击片雷管的起爆电压，对降低武器引控系统的体积具有重要的意义。对降低冲击片雷管起爆电压的方法进行了探索，通过低电感电缆的研制，降低回路电感，提高能量利用率；进行了起爆电压和飞片速度的关系试验，对起爆电压的选择提供了依据。

简介：应变片性能测试是基本传感器实验之一,结合当前流行的测量与控制系统软件labview及数据采集卡usb6009,设计一应变片自动校准及测量方案,本套设计方案对其它传感器的应用也有很好的借鉴意义,同时起到提高学生实验积极性作用.

简介：薄膜厚度的测量是薄膜科学的重要分支之一，本文讨论用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法，从而确定薄膜的厚度和折射率，该方法的优点是测量精度高，原理简单，在一次测量过程中可同时确定薄膜的厚度和折射率。

简介：通过对TATB基复合炸药中TATB的改性，探索降低装药冲击片起爆阈值的可能性。主要通过进一步细化TATB炸药，增加其比表面积，提高装药的冲击片起爆感度。制备了3组TATB为纳米网格状态的复合始发药（装药密度为1．73～1．74g／cm^3），装配成冲击片雷管，采用感度升降法测试这几组状态始发药的冲击片雷管起爆阈值，通过与相同组分的亚微米TATB复合始发药起爆阈值进行对比，考察纳米网格TATB复合始发药对冲击片雷管起爆感度的影响。

简介：磁场驱动等熵加载技术利用快电流脉冲产生的磁场来加速飞片，能达到很高的速度，对于材料在高压下的状态方程研究具有很重要的意义。其基本特征是在相互绝缘的阴阳两极产生强磁场，利用磁压来驱动直径约在毫米，厚度几百微米的飞片获得高速；同时，也可以利用这项技术在样品中产生平滑增长的准等熵加载，使样品达到等熵压缩状态。相对于其他加载方式，其突出特点是在材料中达到很高压力或驱动飞片高速飞行的同时，在材料或飞片中的温升较低，实现准等熵加载或驱动。

简介：利用CO2激光对BP550型滤光片开展大样本量的表面损伤实验研究,通过抽样统计的方法分析不同实验样本量对应的几种定义的滤光片激光损伤阈值。结果表明：BP550型滤光片在0～100%的损伤概率与功率密度满足线性关系;在准确性及置信度相同时,与通过线性拟合法得到50%概率损伤阈值所需的样本量相比,通过线性拟合法得到0概率和100%概率损伤阈值所需的样本量更大,而通过最大不损伤功率密度与最小损伤功率密度平均值的方法获得50%概率损伤阈值所需的样本量更小。

简介：利用海洋光纤光谱仪将光信号经分光系统和CCD阵列转换为各个波长范围的电信号,用SpectraSuite软件进行分析处理,获得相应的光谱信号曲线.实验结果表明,不同滤光片的透过率曲线不同,分析了滤光片透过的波长范围及其各自的透过率,通过各个滤光片的测试结果,了解各滤光片的应用领域.

简介：阻抗匹配法是激光状态方程实验重要的测量方法，阻抗匹配靶的质量与靶参数的测量精度直接影响状态方程实验数据的可靠性与精度。因此，2004年致力于高质量铝铜阻抗匹配靶的制作，并努力提高靶参数的测量精度。

简介：介绍了半导体制冷片的基本结构,基于单片机和半导体制冷片设计了热敏电阻温度特性研究实验,设计完成了温度特性研究系统的硬件电路和软件构造,探讨了单片机和半导体制冷片在物理实验中的应用。此实验平台具有很好的扩张性,可用于设计组成各种温度控制类的实验内容。所完成的温度特性研究实验系统具有集成度高、体积小、使用方便等特点。

简介：通过在谐振腔内插入窄带滤光片,开展了XeF（C-A）蓝绿激光窄线宽输出实验研究。研究结果表明,采用该方法,可以获得焦耳量级能量、线宽小于2nm、波长稳定的激光输出,激光最窄线宽为1.3nm。增大滤光片与谐振腔光轴的入射角,激光器输出能量降低。

简介：利用50Co实验研究了国产LiF(Mg,Ti)-M热释光剂量片(TLD)的线性响应上限及重复性.结果表明,国产LiF(Mg,Ti)-M的线性响应上限在150～200Gy之间,超过线性上限后灵敏度下降.在剂量片线性响应范围内重复使用,灵敏度基本不变;超过线性上限后重复使用,灵敏度会增加.实验结果还表明,通过筛选可以使一组剂量片的响应一致性满足使用要求,而且不论后续使用中的辐照剂量是否在线性范围,它们的响应一致性均不会因多次使用而变差,因此可以采用成批使用的方法测量非线性区吸收剂量,以提高大剂量测量的准确度.

简介：为实现探测器响应率测量中辐射源的稳定红外辐射,利用高温黑体和干涉带通滤光片组合的方法得到了3.8μm中红外辐射,测量了HgCdTe中红外探测器的室温响应率.结果表明,通过上述组合方法获得了均匀的远场窄带红外辐射,可用于精确测量探测器在不同波段的响应率;分析了黑体源温度、干涉滤光片带宽和辐射距离对光功率密度的影响,并通过与其他标定光源的比对,验证了该方法的有效性.