简介:为了验证双光路敏感器折反部件在实际工况下是否会发生成像失真及结构损坏,采用有限元分析软件MSC.Nastran对双光路敏感器结构进行了静态分析和模态分析,得到了结构的静态特性及固有频率。根据分析图像所得数据及反射定律计算,得到折反镜实际反射光线与理论反射光线的偏移量为0.03mm,小于设计时的理论安全值0.05mm,验证了折反部件在静力学作用下变形较小,成像不会失真;动态分析得到折反部件的基频为1647.5Hz,基频较高不易产生共振,具有一定的结构稳定性,成像结果令人满意。对进一步的结构优化设计提供理论支持;此外,对提高样机的可靠性,降低风险具有指导意义。
简介:2013年5月25-26日,第六届国际光子与光电子会议(The6thInternationalPhotonicsandOp—toElectronicsMeetings,POEM2013)在武汉光电国家实验室召开。开幕式上,美国光学学会的首席执行官ElizabethA.Rogan女士和华中科技大学副校长、武汉光电国家实验室常务副主任骆清铭教授到会致辞。4名本领域权威专家作全体大会报告,分别是:澳大利亚科学院院士、工程院院士、国际电工委员会委员,澳大利亚新南威尔士大学教授及超高效光电学研究中心执行研究主任MartinGreen,澳大利亚科学院院士、工程院院士、澳大利亚桂冠院士