简介:
简介:摘要:显微镜是人类研究客观世界的眼睛,其中,透射电子显微镜( transmission electron microscopy,简称 TEM)是应用最广泛的、具有纳米级别表征能力的显微镜,常用于生物、半导体、材料学领域。 TEM技术发展涉及电子腔、电磁透镜、 HRTEM、 STEM等方面,近些年来球差矫正技术的发展使得 TEM的分辨率提升了一个数量级。而本文针对 TEM样品杆专利技术的发展进行了梳理,是因为样品杆是 TEM观测中用于承载样品,实现特殊观测需求(如原位观测,力学、热学、电学测试)的重要部件,价格昂贵,有的原位样品杆的价格甚至占到 TEM整体价格的一半,并且国内 TEM样品杆技术有一定的技术积累。因此本文首先阐述了全球发展趋势以及在各国的分布情况,介绍了几个重要申请人的专利申请情况,其次对专利技术发展路线进行梳理总结。通过上述分析研究,以期为相关领域的专利审查提供参考。