简介：以往都是用B探针感应电压信号的过零点时间作为电枢通过B探针的时间，但此方法存在一定的误差。为了测量电磁轨道炮发射过程中电枢在膛内运动时准确位置，通过理论分析和推导得出B探针的感应电压是由脉冲电流及电枢运动共同作用产生的，并推导出由B探针感应电压及脉冲电流计算电枢通过B探针准确时刻的方法。根据电磁感应原理设计了B探针，并在试验中运用新方法计算出电枢通过B探针的时刻，与B探针感应电压信号的过零点时间做比较，根据拟合的速度曲线，得出使用输出信号过零点作为电枢通过B探针时间存在一定的位置误差值，使用新方法可以提高测量精度。

简介：

简介：摘要：不落轮镟床在地铁场段设备中作为关键设备之一，有着举足轻重的作用，区别于落轮式的镟床，具有加工效率高、集成化高、操作方便等特点，因此，如遇故障，可能影响电客列车的供车速度，需对该设备进行深入研究。

简介：摘要：晶圆测试是半导体封测的生产的重要环节。晶圆测试中，探针与其对应测试垫的位置对准非常关键。但该技术在准确性和效率方面仍有不足。尽管探针痕迹自动检测技术逐渐成熟，但利用探针痕迹对针位进行修正的主流方法仍为手动或者半自动，导致自动生产过程中断。随着图像处理水平的提高，从针痕自动检测时采集的图片中，可以快速准确的提取针痕和测试垫的几何信息，进而利用刚体运动模型和最小二乘拟合计算出最优修正参数。应用该方法于探针测试控制系统，开发出新型探针与测试垫对准修正系统。该系统部署在服务器端，通过网络与探针机通信，使图像采集、信息处理、修正控制全部自动化、标准化，提高了准确性和生产效率。 关键词：探针对准；探针痕迹处理；刚体运动；最小二乘 一、简介 晶圆测试工序是芯片封测流程的重要步骤，主要是对晶圆上的裸晶颗粒进行电性测试，筛选出良品送入后续封装环节。进行电性测试，需要通过大量探针连接测试资源和待测裸晶颗粒，每颗探针都需要准确可靠的接触裸晶颗粒上的对应金属测试垫。不良接触严重影响测试效果，甚至，探针接触到测试垫有效区域外面，产生结构缺陷，如裂纹，影响芯片可靠性。尤其近年来芯片集成度不断提高，边长40微米的方形测试垫越来越多的出现在产品中，对探针和测试垫的对准要求越来越高。而且，基于成本的考虑，测试并行度也在提升，同时测试上百个产品的测试方案越来越多，原有的对准方法在原理、速度方面不再适用。 通常，每个生产批次开始前，探针机要进行探针和测试垫的对准，之后进行探针与测试垫的试接触。会在测试垫金属表面留下探针痕迹，它反应了接触状况，影响测试效果和质量。因此，试接触后，要进行探针痕迹检查。对准是通过相机获取针尖和测试垫的位置信息计算的，针尖状态、探针滑动情况、对准系统误差等因素会影响对准效果。另外，提取针尖信息需要频繁对焦，速度较慢，限制了参与对准计算的针尖测试垫对的数量。因此，利用探针痕迹和测试垫的几何位置进行对准更加直接。 探针设备不断进步，可以在自动检测探针痕迹的同时，通过网络将相应图片传送到服务器。服务器上运行的离线对准系统对图片进行分析，识别探针痕迹和测试垫，提取其几何信息【1】，利用刚体运动模型和最小二乘拟合方法在探针机承载台平面内进行对准计算，产生沿承载台X、Y和θ轴的修正参数【2】。再远程控制探针机进行位置修正，改善接触情况。对于高并行度测试，由于探针众多，需要处理大量针痕图片。在服务器端，利用人工智能技术和并行计算，可以大幅提高图像处理速度和准确性，减少延迟。且通过并行处理，使探针设备的运行不受影响，同时进行生产测试。该独立运行于服务器的对准系统可以直接接入探针机测试机系统，也可以通过其它控制系统接入测试系统。 二、传统探针对准方法及系统 晶圆测试阶段，晶片未切割封装，需要通过探针连接裸晶颗粒上的金属测试垫和测试资源，进行电性测试。测试开始前，探针台对探针和金属测试垫进行位置对准，修正X、Y、Z和θ轴的运动参数，减小平移和旋转误差，确保良好的接触效果。测试过程中，探针机承载台将晶圆运至探针卡下并升起，使测试垫与探针针尖接触。在接触处会留下探针痕迹。 如图1所示，传统对准方法包括三个步骤：自动探针对准，自动晶圆对准和手动修正。探针对准时，探针机相机依次移动到待测针尖处，测量针尖位置。由于该测量需要在Z轴方向上通过多次聚焦搜寻针尖准确位置，较耗时，每根探针平均需要2秒。因此，尽管探针卡针数不断增加，但是由于时间成本，通常只选择少数探针进行对准。当然抽样量小会产生较大的误差，尤其是某些针尖磨损或位置偏移时。晶圆对准时，探针台通过相机获取探针对准中所选探针的对应测试垫的位置信息。探针机利用这些针尖和测试垫的位置信息，进行拟合计算并初步设定探针机载物台运动参数，并按照该参数进行试接触。 试接触时，常出现误对准情况，即在X轴、Y轴或θ轴上存在较大误差。严重时导致针痕在测试垫上的位置显著偏移，超过测试垫边缘，产生质量风险，此类芯片视为废品（MIL-STD-883）。该问题更多是由θ轴的转动误差造成，而非X轴或Y轴的移动误差。这是因为转动误差依三角关系沿晶片直径转化为X和Y向误差并放大。常见现象是沿一方向各裸晶颗粒上的针痕偏移程度逐渐严重。即使没有显著的误差，针痕位置也会在几个微米的范围内波动。再考虑针痕尺寸通常大于10微米，对于如今常见的40微米的方形测试垫，挑战严峻。因此，如何使针痕尽量靠近测试垫中心而远离其边缘非常重要。这对于安装数千甚至数万根探针的针卡，极具挑战，需要巧妙的算法和强悍的算力。但目前仍然需要操作人员手动修正。 手动修正是为了削减探针台自动对准误差，尽量使所有针痕接近理想位置。如图1虚线框内所示，包括试接触、目检和调整三个步骤。首先通过试接触产生针痕，以反映当前对准情况。然后观察针痕并依经验判断误差情况。接着对X、Y和θ轴误差进行手动修正。再循环进行试接触、目检、修正，直到针痕位置比较理想，结束手动修正，继续生产。该步骤需要操作人员手动操作、人为判断，非常耗时。对于针数较多的产品，人为判断常不理想，尤其θ轴误差常需调整，占时超过5%。考虑大量针痕的情况并做出判断，直觉和经验不够准确，需要自动的、定量的计算解决该问题。 三、新型探针对准方法及系统 传统探针和测试垫位置对准存在两大问题，一是探针对准步骤虽然是自动化的，但由于在Z轴上频繁对焦而耗时，只能抽样少量探针，而Z向误差较大。二是手动修正步骤耗时且不够准确，对X、Y和θ上的误差的修正不理想。对于问题一，已有电学接触方法来快速准确的对Z轴参数进行修正。因此对问题二，需找到新方法来解决X、Y和θ轴参数修正问题。随着技术发展，探针机自动目检功能逐渐成熟，大量包括针痕和测试垫的清晰图片可以在自动目检运行的同时从探针机相机发送到服务器，延时很短，不会对生产过程和效率产生影响。这些图片包含着进行X、Y和θ轴对准修正的完整信息。而且，生产中针尖常常变形或者被污染，针尖图像噪声大于针痕图像。利用这些几何信息可以分析出如何调整，但需要大量运算。因此，在新对准系统中， 利用服务器进行该计算，可以减少探针机系统负载。这样，在自动针痕检查时，探针机将图片和相关信息发送到服务器，并通知服务器开始运行新型对准修正系统。 图1 传统与新型探针对准流程

简介：受附面层和二次流的影响,涡轮导向器出口流场呈现三维特性,需使用五孔探针进行测量。本文参考相关资料,发展了一种适用范围较广的五孔探针数据处理方法,并编制了计算程序。经验证,该程序对马赫数计算的不确定度不大于1.5%,气流角计算的不确定度不大于0.5°,精度满足工程需要。将其用于某导向器出口流场测量,取得了较好的效果。

简介：TDJ减速顶自1977年通过部级技术鉴定,1979年正式在铁路编组场上投入运用以来,至今已十年多了。十年来,在我国铁路编组场和路外厂矿得到广泛应用,有60多个编组场采用TDJ减速顶,约安装了16万台,并打入国际市场,而且“TDJ”在国内外的发展正方兴未艾。但是,任何一种新生事物,都不可避免地由它自身带来一定新的矛盾和问题,这是事物

简介：1989年铁道部立项研究的课题,由四方车辆研究所主持,哈尔滨局、上海局、广州局和上海铁道学院参加的“适用于内侧减速顶的调车机车DJND型轮缘踏面、运用限度、检测量具”科研成果,于1993年4月21日在青岛通过铁道部技术鉴定。这是对我国机车车轮形状、运用限度、检测方法的新的探索,大胆创新,必将有利于铁路运输事业的不断前进。对此,我们表示热烈祝贺！祝贺这一科研成果通过部级技术鉴定,祝贺该成果在今后的运用实践中取得圆满成功！任何一个新生事物的诞生、成长、壮大都不是一帆风顺的,都会带来一些新的矛盾。新生事物具有强大的生命力,但又会存

简介：利用位移机构移动四孔压力探针，对小展弦比涡轮转子出口不同试验状态下的流场进行了测量。试验前对四孔压力探针进行了标定，试验中利用同步锁相技术进行数据采集，采用等相位平均法进行数据处理，再通过插值算法对探针压力数据做进一步处理，准确得到了转子出口具有周期特性的马赫数、偏转角、俯仰角、总压、静压、速度等流场参数。测量结果清楚表明：泄漏流区域的速度低，对应的相对总压小，损失大；间隙大时，泄漏流显著，导致气流亏转，对应的静压高，膨胀程度小于主流。

简介：摘 要：润滑火车轮胎可以提高火车的耐用性和安全性，并有效降低火车故障的风险。本文介绍了我国最常见的轨道车轮胎润滑方法，并分析了干式润滑的工作原理，特点和存在的问题，预计对铁路润滑系统的分析将有助于我国铁路技术的继续发展。

简介：减速顶对调车作业有特殊意义,因此,各方面都积极支持减速顶的普及和推广。上海、哈尔滨、广州局对轮缘磨耗问题进行了攻关,以适应减速顶的应用,工作是大量的,也是有成效的,体现了机务部门对减速顶研究和调车业务的支持。一、就改善轮缘磨耗的思路而言,把重点放在轮轨以及轮顶接触几何学关系上是完全正确的。事实上,TB型锥形车轮只能在短周期内保持标准状态,新轮的磨耗速度是非常迅速的,而且在通过曲线时经常出现不

简介：摘要：本文通过对轮缘的裂纹断口进行宏微观形貌观察，并检查了轮缘的组织、硬度，确定了轮缘的失效性质，并对其失效原因进行了分析。

简介：摘要：详细分析铁路机车现有的两种润滑方式的优缺点，分别是油脂润滑和干式润滑，并且指出两种润滑方式需要进行改变的地方。

简介：本文介绍了同步辐射及其特点，同步辐射微探针荧光分析的实验装置及北京同步辐射装置上开展的研究工作。

简介：研发安全有效的肿瘤靶向治疗的纳米探针是一项极具挑战性的任务。最近，上海交通大学和安徽医科大学研究组共同研发出一种生物相容性好、靶向性好、生物安全性高的智能化的纳米探针。实验表明，这种新颖的智能化纳米探针能准确识别活体肿瘤细胞与肿瘤中的新生血管内皮细胞，在近红外激光照射下，

简介：轮缘润滑装置是列车减少车轮、钢轨磨损，节约牵引能耗，提高列车利用效率和提高运输安全的设备，本文将结合苏州地铁一号线轮缘润滑控制方式及其出现的问题进行进一步的分析。

简介：摘要货车轮缘异常磨耗不但缩短车轮的使用寿命，影响货车通过曲线和道岔的可靠性，降低列车运行的安全性及稳定性，更会导致货车脱轨、颠覆等安全事故，给铁路运输带来巨大安全隐患。

简介：摘 要：公司某成熟车型机车在用户处轮缘磨耗严重，镟轮周期一般只有3～6月，远小于机车正常旋轮周期。为找到磨耗原因，从机车运用环境，线路及钢轨状况，车轮材料等方面进行收集数据并分析。最后根据分析存在的原因提出改进措施。

简介：随着PCB密度不断增加,单位面积测试点数上升很快,测试点之间的距离也日趋微观化。在细节距BGA应用中,每平方英寸测试点数从500(1.27毫米节距的BGA)到2500(0.5毫米节距的BGA)不等。超细节距的QFP和CSP(芯片级封装)的应用,测试点节距已小致1～2mil。而且,PCB市场出现

简介：简单介绍易拉罐酒机BSF部分参数和探针检测原理。对生产过程中出现探针损坏情况进行分析，并对探针头密封罩进行改造。对比改造前后电气元件使用成本，确立改造后在实现降低探针损耗的同时，提高了啤酒产量和成品质量。

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