简介:摘要:本文设计了一种新的测试芯片测试装置,通过更简单的结构就实现对芯片多个位置的功能检测。本设计在于提供一种通过一个电机驱动蜗轮蜗杆,再带动单凸轮轴实现多个运动的测试装置,以解决现有技术中测试芯片的测试装置内部机构复杂,体积大费用高的问题。
简介:中学任务型英语口语测试系统源于任务型英语口语测试(Task—BasedEnglishSpeakingTest,简称TBEST;刘骏、肖亮荣,2009)体系。2007年底TBEST项目组开始与广东省教育厅教研室,即由笔者主持的广东省教育厅“十五”规划重点课题“基础英语学习评价工具的研究与开发”(项目编号:JZA02015)课题组合作,由MindWorksLimited提供技术和资金支持,经过一年多的反复研究、实验和完善,于2009年初完成了中学任务型英语口语测试系统的研制和测试,并开始向省内部分初高中学校推荐使用。