简介:摘要半导体器件在测试结壳热阻之前都要先确定其K系数,一般选择器件内部二极管的正向压降作为温度敏感参数(TSP)。现行有效的测试标准中,只是规定正向压降测试电流IM必须足够大,以保证PN结导通,但不能大到足以引起明显自热,这对实际的操作选择很困难。本文通过MOSFET和肖特基二极管作为研究对象,在不同的IM下测试K曲线进行分析,得出便于操作的方法。
简介:摘要对国际上公认的两种半导体器件结壳热阻测试方法美军标MIL-STD-750F和JEDEC标准进行对比测试研究。通过双极性晶体管和MOSFET两种不同类型的器件,用Phase12进行实测,得到了不同方法下的热阻值与曲线。分析了两种测试方法原理及测试结果的差异,科研生产提供参考。
简介:摘要: IGSS是衡量 VDMOS器件性能的一个重要参数,在生产过程中,有很多因素会影响 IGSS。文中从 VDMOS器件结构及工艺入手,通过电学性能测试分析及 FA失效分析对一种特定区域的 IGSS失效问题进行研究,发现是多晶刻蚀残留导致 IGSS失效,并分析了多晶残留的原因,最终通过加入 SF6,调整多晶刻蚀菜单解决了 IGSS失效。
简介:摘要:微波传输管线中的高精度波导器件接口面缝隙直接影响微波传输性能和密封性能指标,传统的研修工具采用了锉刀、研磨膏、研磨粉、砂纸及抛光轮等,伴随着新兴研磨材料的发展,陶瓷纤维油石已广泛应用于模具行业的修研,本文探讨的是将纤维油石应用于波导器件的修研的可行性及修研效率上的显著提升。
简介:摘要:动车电气柜布线设计的影响因素及优化探讨,旨在优化动车组系统的稳定性和可靠性。首先,全面评测电气连通稳定、布线路径合理及电气元件分布均衡等关键指标,了解系统运行所需条件和实际工作环境。其次,经优化布线设计可提高使用效率,涵盖布线路径优化、电气元件布局调整等专业领域,提升系统的稳定性和可靠性指标,减少故障发生频次以提高运行效率。最后,动车电气柜布线设计的核心指标解析与优化,关于优化动车组系统的稳定性和可靠性,关键作用在于保障系统运行安全稳定。