简介：Cadmiumzincleadsulfide[Cd0.8(Zn1-x,Pbx)0.2S]nano-powderswerepreparedbyanimprovedcoprecipitationmethod.TheeffectofPb2+concentrationat500ConthephaseandcrystallinestructureoftheCd0.8(Zn1-x,Pbx)0.2SpowderswereinvestigatedbyX-raydiffraction(XRD).Accordingtothetransmissionelectronmicroscopy(TEM)images,theparticlessizeareintherangeof58nmto72nm.Inaddition,opticalbandgapenergyandopticalconstantsofnano-powdersweredeterminedusingtheultraviolet(UV)spectrum,Fourniertransforminfraredspectroscopy(FTIR),andKramers-Kroniganalysis,respectively.Wecalculatetherefractiveindexn,extinctioncoefficientk,anddielectricfunctionεasafunctionofthewavenumber.TheexperimentresultsdemonstratethattheamountofPb+2hasbeenplayinganincreasinglyimportantroleonopticalpropertiesofCZPSnanocrystals.

简介：以不同成分Sn-Pb凸点为研究对象,分析回流次数对凸点IMC生长的影响。试验结果表明,多次回流中,5Sn95Pb凸点的剪切强度变化幅度最大,其余凸点抗剪切强度波动范围较小。凸点界面处IMC层厚度值均逐渐增大,其中3Sn97Pb和5Sn95Pb凸点界面处的IMC厚度增加速度较慢。界面IMC层晶粒尺寸逐渐增大,10次回流后,3Sn97Pb和63Sn37Pb凸点界面处观测到长轴状凸起,5Sn90Pb和10Sn90Pb凸点界面处IMC层呈现出较为平坦的形态。

简介：在电子产业无铅化的转折期。元件供应商也许要为区分无铅与含铅的不同元件而准备双重的生产线。这会给制造部门的后勤供应带来问题。当生产中实现全部的无铅化后，这一问题才可能解决。因此，研究Sn—Ag—CuBGA元件使用共晶Pb—Sn焊膏的焊点可靠性问题，在当前非常必要。本文提出了关于VFBGA（极细间距BGA）及SCSP（芯片级尺寸封装）无铅封装元件在印刷电路板（PCB）组装中使用共晶Pb—Sn焊膏的焊点可靠性评估。在标准的Pb—Sn组装环境下，使用了各种不同的回流曲线。峰值温度从208℃至222℃。回流曲线类型为浸润型曲线（SoakProfile）及帐篷型曲线（DirectRampUpProfile）。组装后的PCB板被选择进行了板级温度循环测试（-40℃至125℃，每30分钟循环一次）及跌落测试。失效细节分析同样会在本文提及。