简介:采用燃烧法合成了La1.6(MoO_4)_3:Eu_0.4^3+纳米晶末,研究了其声子一掺杂-晶格相互作用和发光性质。x射线粉末衍射(XRD)分析表明,在500~900℃退火后,La1.6(MoO_4)_3:Eu_0.4^3+样品为单一晶相。对样品进行了光致发光(PL)测量,激发Mo^6+-O^2-电荷迁移带,观察到Eu^3+的系列发光,表明Mo^6+-O^2-带和Eu^3+间存在能量传递,中心波长分别在λ1=469nm和λ2=426nm处的两个one-phonon边带,相应的声子能量分别为767和1202cm^-1,分别对应于Mo=0和Mo-0-Mo伸缩振动。同时,计算了两个局域模电子一声子耦合强度的黄昆因子分别为S1=0.055和S2=0.037,为揭示其三价离子高传导特性及其负热膨胀物理特性提供了实验基础。
简介:在相同的反应体系中当ph值从约9.5调变至11时分别合成出双中孔SiO2和六方中孔SiO2材料,并用XRD、N2吸附、TEM、TG/DTA和FTIR等测试手段对合成产物进行了表征。实验结果表明,双中孔SiO和六方中孔SiO2是合成中必然出现的两种不同的中孔物相。与六方中孔SiO2相比,双中孔SiO2也具有典型中孔材料的特征XRD谱图,虽然仅呈现一个易让人产生不完全晶化误解的相对较宽的单XRD衍射峰(d=5.2nm),但它却给出一种独特的N2吸附等温线和窄的双峰中孔孔径分布曲线。由于孔壁的无定形及表面活性剂分子与SiO2骨架间相似的相互作用,两类材料给出类似的FTIR谱图和TG/DTA曲线。然而,在双中孔SiO2的FTIR谱图中960cm处峰强度的微小变化可能意味着在锻烧脱除模板剂后双中孔SiO2较六方中孔SiO2具有更高的骨架聚合度。更多还原