简介:O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平(兰州大学物理系.甘肃,兰州(730000)),奇莉,甘润今(北京机械工业学院基础部.北京(100085))//光学学报.—1998,18(9).—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得
简介:摘要目前在军工领域FPGA软件的应用越来越广泛,为了提高软件质量,本文根据FPGA软件的特点,对FPGA软件的测试模型和测试方法进行了分析。本文指出FPGA软件开发过程中应进行整体规划并有效实施,FPGA软件测试中的各项活动应与其设计开发过程各个阶段的活动相对应,应尽可能将各阶段产生的缺陷在该阶段发现和消除,不断提高FPGA软件的开发效率和可靠性,最终提高FPGA软件产品质量,提升顾客满意度。