简介:在半导体制造工业中,参数测试作为有效的对在线制品的监控手段,一方面反映了工艺线的工艺水平状况,另一方面它也是制造公司与设计公司之间进行沟通的主要依据。而对于新工艺研发来说,参数测量及分析更是整个研发过程中极其重要的一部分,及时准确的参数测量结果是产品工程师快速作出工艺研发方向的判断依据。因此,芯片参数测量分析的主要作用在于:在工业生产中得到大量的测量数据,用于评价工艺设备、半导体材料和电路结构,监视和控制工艺和器件参数的均匀性、重复性、协调性,分析工艺中存在的缺陷,诊断电路性能失常规律,预测成品率,预报可靠性信息等等。文章主要介绍了运用参数测试对在线工艺异常进行可靠性评估的方法。
简介:简要介绍了H.265/HEVC的编码框架和采用的新技术。比较了H.264/AVC和H.265/HEVC的图像质量、压缩比、编码时延等关键技术指标,将H.265/HEVC与H.264/AVC的编码性能进行了比较。实验结果表明,HEVC在编码性能上有了明显提高。
简介:以装备保障需求为牵引,提出了基于主成分分析(PCA)的装备综合保障能力评估方法。首先,提出了装备综合保障评估指标确定原则,构建了相应的评价指标体系;然后,建立了基于PCA的装备综合保障能力评估模型;最后,通过实例表明该方法评估装备综合保障能力可行。