简介：O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平（兰州大学物理系.甘肃,兰州（730000））,奇莉,甘润今（北京机械工业学院基础部.北京（100085））//光学学报.—1998,18（9）.—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得

简介：随着表面科学和材料科学与工程的发展，近几十年来表面工程摩擦学获得了迅速发展，表面工程摩擦学领域所获得的大量研究成果不仅促进和丰富了摩擦学的基础研究，而且为开发工业和高新技术发展所必需的具有高强度、高耐磨性和高抗腐蚀性的摩擦学材料提供了重要的指南。研究PBX表面摩擦性能测试方法，可以为新型PBX的研制开发和库存科学技术研究提供技术支撑。PBX表面摩擦性能的测试与研究尚未系统开展，为此，初步研究了PBX动、静摩擦系数的测试方法。

简介：TH70397063908光学元件的疵病检验与研究现状=Presentsituationofimperfectionstestingandresearchingontheopticalcomponents[刊,中]/戴名奎,徐德衍(中科院上海光机研究所.上海(201800))∥光学仪器.—1996,18(3).—33—36

简介：<正>一、填空题（每小题3分,共30分）1.若a/b=7/4,则（a+b）/b=_{。2.已知线段a=5,且a、b的比例中项c=151/2,则线段b=。}

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简介：O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

简介：O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

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简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：TH70396021316激光圆偏振镜相移参数的测量=PhaseretardationmeasurementofCO2lasercircularpolarizer[刊,中]/周凤晴,李晓平,陈清明（华中理工大学激光技术国家重点实验室。湖北,武汉（430047））∥激光技术。—1995,19（4）。—193—196CO2激光圆偏振镜是CO2激光器在工业加工中的重要光学元件,本文描述一种测量这种光学元件相

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

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简介：数的开方单元目标测试（４０分钟完成，满分１００分）一、简�

简介：TN252005021226光纤光栅在传感应用中波长漂移的检测方案=Detectionmethodsofwavelengthshiftinopticalfibergratingssens-ingapplication[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室.陕西,西安(710065)),乔学光…//光电子技术与信息.-2004,17(5)．-49-53波长漂移量的检测是实现光纤光栅传感网络的关键技术。分类阐述了近几年来光纤光栅传感应用中主要的

简介：TB922002032253基于线阵CCD阵列的在线检测方法=New3DsurfacemeasurementonlinebasedonlinearCCDarrays[刊,中]/周鸿,赵宏(西安交通大学机械学院激光与红外应用所.陕西,西安(710049))//半导体技术.-2001,26(11).-1-4利用矩形光栅离焦投影,产生正弦光场,通过三个严格排列的线阵CCD阵列对物体三维轮廓进行扫描采样测量,一次扫描就可以获得三幅相位图。重点讨论了该方法的原理和特点,并给出试验简图及实际测量结果。图8(李瑞琴)

简介：TB812.52002010504胶片分析系统形成色偏原因分析及校正方法=Analysisonreasonsofcolorcastforminginafilmanalyzingsystemandcalibrationmethod[刊,中]/王雪晶,郝志航(中科院长春光机所.吉林,长春(130022))∥光电工程.—2000,27(6).—17-20

简介：由于同步装置工作时有脉冲高电压、大电流输出，产生的电磁环境十分复杂和恶劣，对周围的组件及测试系统产生较严重的影响，在台面联试、半总装联试及总装联试等不同状态下，经常出现由于干扰问题，影响程控等装置正常工作，使系统联试工作无法正常进行，严重时还会造成程控等装置损坏。因此，需要测量高压脉冲大电流在环境中的辐射频谱和幅度，为系统中其他组件的电磁兼容设计提供技术依据。