简介：ParaloidB72（PB72）是现今世界文物保护领域中使用最广泛的一种聚合物材料，但人们发现它的耐老化性能并不理想，需对其光稳定性能进行研究。为此，通过傅立叶红外光谱衰减全反射技术（ATR—FTIR）和漫反射光谱技术跟踪监测了PB72光老化过程。同时测量了材料在光老化过程中的质量、涂膜硬度、可逆性等参数的变化。结果表明，PB72在光老化过程中，色度方面表现出相对较好的稳定性，因为在光老化过程中并没有产生过多的发色基团；但在光老化过程中分子结构发生了～系列变化，尤其是其羰基峰和酯基峰出现了明显的降低，并出现了较为明显的涂膜变硬、重量损失及可逆性降低现象。对监测数据的分析比较说明，PB72的耐光老化性能并不十分理想，其光稳定性有待进一步提高。
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