简介：Hf的加速器质谱分析要求必须提供纯度极高的HfF4样品，以便获得足够多的HfF5^-离子流来进行测量。氧同位素等杂质会导致产生HfF3O^-，HfFO2^-等无测量价值的离子流，造成HfF5^-束流强度降低，使测量能力下降。“干法”制备技术有助于获得纯度高、无氧和水等杂质的HfF4样品，从而改善加速器质谱的测量效果。
HfF4样品的干法制备
