简介:《信息技术》课程从2000年正式成为国家课程后,它的教育教学及其考试与评价问题,就成为政府教育部门和教育专家学者及广大教师所关注的核心问题,特别是引起了信息技术教育方面的专家学者和教师的深思和探究,人们不禁联想到了《信息技术》课程的高考问题。作为一门国家课程,不是研究要不要进入高考的问题,应该研究怎样进入高考的问题。高考是国家最重要的选拔考试,《信息技术》课程是最具有创新意义的课程,它的考试如果继续沿用传统的考试模式,它将失去其创新的意义。受李艺教授等研究的启示,根据《信息技术》课程的特色设计了两款通用的实践性考试题目与李教授等各位专家和广大教育同仁讨论之。
简介:<正>半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)旗下全资子公司TouchdownTechnologies推出了其1Td300全晶圆探卡,这是该公司首款用于高级DRAM存储器件单次触压、高容量测试的探卡。该产品能够对300mm或200mm晶圆进行高并行测试(highlyparalleltesTIng)。每探针只需要2g压力就能够测试整个300mm晶圆,堪称业界最低的探针压力,所需压力不到市面上同类产品的一半。1Td300探卡提供了双重优势,不仅能够降低对被测晶圆和整个测试台的压力,同时允许更高的引脚数,以拓展半导体测试范围。《国际半导体技术蓝图》(ITRS)预计,到2011年,DRAM的多