FeMn/Co多层膜界面插入Bi前后的微结构分析

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摘要 研究了FeMn/Co多层膜界面插入Bi前后微结构的变化。利用磁控溅射法制备了FeMn/Co多层膜,利用X射线小角反射和漫散射技术进行了表征,得到结果如下:插入Bi之前,在FeMn/Co界面处确实存在FeMnCo的成分混合存在,插入Bi之后,FeMnCo的成分中掺入了Bi。而且,在FeMn/Co界面处Fe,Mn,和Co的元素分布不相同。
机构地区 不详
出版日期 2002年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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