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芯片集成电路电磁兼容测试技术

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摘要摘要：当今，集成电路的电磁兼容性越来越受到重视，芯片电磁兼容(EMC)技术关乎整机电子系统及其周围电子器件的运行的安全可靠性，电磁兼容性。电子设备和系统的生产商努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范，降低电磁发射和增强抗干扰能力, 集成电路（IC）的电磁兼容性（EMC）的测试方法正受到越来越多的关注,文章基于国内外资料调研和课题组的研究成果, 介绍了器件级(IC)EMC测试方面的发展现状，测试标准，详细介绍了器件级(IC)主要的电磁兼容测试方法。

DOI pd5v9xk2j7/6249647

作者郑益民

机构地区浙江诺益科技有限公司浙江杭州 310051

出处《科技新时代》 2022年8期

关键词标准集成电路电磁兼容电磁辐射 GTEM小室 TEM小室

分类 [][]

出版日期 2022年07月28日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）