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集成电路老化试验与检测技术研究

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摘要摘要

DOI pd57e7ewj7/7034795

作者陈海锋关卫斌张尚福

机构地区（广东产品质量监督检验研究院，广东，广州，510000）

出处《中国科技信息》 2023年4期

关键词集成电路老化试验检测技术

分类 [][]

出版日期 2023年04月21日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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6,谷国华. 集成电路故障检测技术应用.建筑理论,2024-04.
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9余江. 集成电路制造过程中的缺陷检测与修复技术研究.电力系统及自动化,2024-03.
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来源期刊

中国科技信息

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