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集成电路测试中的系统级测试与验证技术研究

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摘要摘要：随着集成电路（IC）设计复杂度的增加，系统级测试（SLT）和验证技术成为确保芯片性能和可靠性的关键环节。本文围绕系统级测试和验证在集成电路测试中的应用进行了深入研究，旨在探索高效的SLT策略及其对提高IC质量和可靠性的影响。通过比较传统的测试方法和系统级测试，本文详细分析了SLT在模拟真实工作环境下对IC功能和性能的全面验证优势，以及其在降低测试成本和提升测试覆盖率方面的重要作用。同时，本文还探讨了面临的挑战和未来发展方向，为IC测试领域的研究者和工程师提供了新的视角和方法。

DOI zdl120erp4/8219764

作者何嘉辉

机构地区佛山市联动科技股份有限公司广东佛山 528226

出处《中国科技人才》 2024年4期

关键词系统级测试，集成电路验证，测试策略，性能验证，测试成本优化

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2024年04月30日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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中国科技人才

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