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集成电路成品测试的常见问题研究

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摘要摘要：本文围绕集成电路成品测试的常见问题展开研究，首先概述了集成电路成品测试的基本概念与重要性。接着，详细分析了测试过程中遇到的硬件缺陷与故障、测试设备与方法问题以及环境与干扰因素等三大常见问题。针对这些问题，本文提出了优化测试设备与方法、加强测试过程控制以及提升测试人员技能等解决方案，并探讨了这些方案在实际应用中的可行性和效果。研究结果表明，通过综合应用这些解决方案，可以显著提高集成电路成品测试的质量和效率，为集成电路产业的发展提供有力保障。

DOI pj0113rnwd/8484703

作者朱文洪

机构地区 (重庆川仪微电路有限责任公司重庆市400700)

出处《科技新时代》 2024年9期

关键词

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2024年07月22日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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