分别研究了采用压片、熔片两种制样方法，用x射线荧光光谱法（XRF）测定了红土镍矿中的9种元素。压片法重点研究了基体效应校正，经散射线作内标和经验系数法校正后，可准确测定除二氧化硅、氧化镁外的7种元素，方法简便、快速；而熔片法着重研究了熔剂和熔样温度的选择，经基体效应校正，各分析元素的结果准确度完全可与化学法相媲美，其相对标准偏差（RsD）在0．50％-3．00％间。
中国无机分析化学
2012年1期
