在大型S6chilienne滑坡开展了地球物理成像活动，包括4条长度950m的电剖面和4条长度470m的地震剖面，目的在于限制受影响区的深度与体积。与未受扰动的地面相比，滑动区域展现了较低速度和较高电阻率值。对比现有大地测量数据、地形数据和地质数据（调查通道与钻孔）表明，这些地球物理参数的变化主要由密集断裂以及滑动物质范围内空气填充孔隙渐进发育引起。在最不稳定区内发现的滑动物质最大厚度为150m至200m。局部地区显示近垂直极低电阻率异常，这与由粘土质物质填充的碎裂区有关。通过应用Wyllie实验定律，从地震层析成像剖面导出岩体孔隙度图像。经调查，从不稳定区顶部至底部的孔隙率在30％和4％之间，这表明了深水位的影响。假定探测基岩的孔隙率界限为3．7％，那么，Sechilienne滑坡的总体积估计约为60×10×10^6m^3，该值比原来的估计值（20×106to100×10^6m^3）更为精确。
