FID对C1-C6烃类的分析

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FID对 C1-C6烃类的分析

高明祥 1 朱国亮 2

1山东正实环保科技有限公司; 2广东希必达新材料科技有限公司

一 试验条件

(1)温度

进样口:250℃;柱箱:45℃;检测器温度:250℃

温度程序:

45℃(1min),10℃/min,120℃(2min);30℃/min,180℃(6min);


(2)流量

载气:氮气

柱流量:1mL/min

分流比流量:50:1


(3)色谱柱:部件号:Agilent 19095P-M25;规格型号:  HP-PLOT Al2O3 M ,50m×0.53mm×15 μm;


(4)样品:六通阀进样;C1~C6 样品;进样量:1mL;


(5)检测器:火焰离子化检测器(FID);空气流量:300ml/min;氢气流量:30ml/min;

尾吹气(N2):25ml/min;


二 色谱图

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3 出峰顺序







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4 说明

(1)关于PLOT柱

在毛细管色谱柱的管壁内表面粘合很薄一层的小颗粒物质——作为气固色谱的固定相,这样的色谱柱通常叫做多孔层开口管(PLOT)柱。样品是通过在气固固定相上产生吸附/ 脱附作用来分离的。因为所用颗粒是多孔的,所以在分离过程中,既有尺寸排阻作用,也有分子选择过程。最为常用的PLOT 柱固定相有苯乙烯衍生物、氧化铝和分子筛等。


PLOT 柱的保留性能非常突出,用它可以进行那些常规固定相做不到的分析分离。对于那些要求在低于室温的条件下,使用聚硅氧烷或聚乙二醇固定相进行的分析分离,PLOT 柱在室温或高于室温的状态下就可以轻易完成。烃类和硫化物气体、惰性和永久性气体以及低沸点溶剂等都是常用PLOT 柱进行分析分离的化合物。


有些PLOT 柱的固定相有时会有粒子的流失,由于这个原因,可能会对那些依靠检测颗粒物质的检测器产生负面的影响。例如质谱检测器由于在色谱柱的出口是一个高真空的空间,所以极易受色谱柱粒子流失的影响。


(2)三氧化二铝 PLOT 柱

氧化铝的化学组成为Al2O3,其晶型有五种,气相色谱法常用的为γ型,其次为α型。氧化铝是轻烃分析的理想色谱柱,缺点是对极性化合物如醇、醛、酮有很强的保留,即使在200℃他们仍然无法从色谱柱中流出。因此需要防止高沸点化合物和极性不纯物质进入氧化铝色谱柱。


氧化铝具有中等吸附性,主要用于分离烃类,对不饱和烃类异构体如C4不饱和烃有独特的分离能力。

目前市场上三氧化二铝 PLOT柱主要有KCL型、S型和M型3种,其中KCL型(KCl 改性)的极性最弱,S型(Na2SO4改性)次之,M型的极性最强。采用KCL脱活改性产生相对非极性的Al2O3 表面;而采用Na2SO4 脱活改性得到的是极性表面。在极性的三氧化二铝 柱上,不饱和化合物例如乙烯和电石气(乙炔)的保留时间更长。石化企业中这3种类型的色谱柱都有比较广泛的应用,尤其是S型应用最为普遍。

三氧化二铝PLOT柱的柱内径从0.25mm到0.53mm均有,0.53mm柱的使用更为普遍,因为它的柱容量大,适合于大体积进样阀的应用。