数字集成电路的测试技术应用

数字集成电路的测试技术应用

杨晓萍

杭州朔天科技有限公司   浙江省杭州市   310000

摘要：随着数字集成电路技术的迅速发展，数字集成电路也逐渐呈现小微化、复杂化等发展特点。并且为了满足精密电子仪器的需求，对于数字集成电路的质量要求和标准也在不断提升。为了提高产品质量和数字电路集成技术水平，就需要通过数字电路集成测试技术对生产的各个环节进行有效控制。因此文章就对数字集成电路的测试技术进行了分析研究，以供参考。

关键词：数字集成电路；测试技术；参数测试

1集成电路测试系统的概念

在专门测试集成电路系统出现之前，人们为了测试出电路的好坏，需要使用一大堆的电子设备。比如电压表、稳压电源、信号发生器、电流表以及示波器等。若出现成千上万个待测电路时，对技术人员所造成的压力是十分严重的。此种情况的出现也引发了人们的深思，能否将多种仪器集中到一个系统中？是否能让这个系统自动完成所有内容的测试？能否让大批量的电路自动依次按照顺序完成测试？一个又一个问题的出现以及一个又一个问题的解决，使得集成电路制动系统出现在人们的视线中。集成电路测试系统具有高速度、多参数、高精准度、多功能等特点，属于电子测试技术与自动控制电子计算机技术所结合的成果，也可以称之为电子测量仪器数字化与数字信息系统所生成的产物。它的主要功能是模拟出被测电路实际工作环境，并结合测试人员所编写出的程序，对被测电路开展连续、精准、快速的测试工作，以此判断被测电路的各项功能以及参数是否符合应用要求。同时，数字集成电路系统作为一项工具，能够分析得出电路失效的原因，为集成电路的生产以及设计提供重要依据。也正是因为此种原因，伴随集成电路设计以及制造技术的不断完善，使得集成电路测试系统的应用功能得到良好发展。

2数字集成电路测试的基本原理与标准

在对设备进行制造时，利用数字集成电路系统对其进行测试就能对其性能、制造流程以及产品质量进行明确，并在此基础上将各类设备进行有效分类，如按照层次、等级、类别以及用途等。对于常见的设备测试方式有电路功能测试、交、直流参数测试等。

2.1电路的功能测试分析

在进行数字集成电路测试时，进行功能测试的主要目的是看电路的功能是否能达到电路设备产品的要求。将所需要测试的图像通过设备电路的输入端进行输入，进而虚招对测试图像做出刺激并反馈相应的信号，并严格按照相应的频率测试标准在设备中输入需要测试的图像。再将所得的结果与产品的实际效果进行有效的对比，分析出两者之间存在的差异，进而将其作为电路测试的依据。功能测试在数字集成电路测试中起着关键作用。设备性能是否正常通常都是以功能测试中图像测试作为对设备性能的初步判断，优质的图像性能能够在极短的时间内精准找出电路产品的问题，维护人员就需要在分析问题的基础上，做出快速反应，减少测试的时间和测试过程中所耗费的成本。在进行数字集成电力测试时，矢量测试也为功能测试的一部分，由于矢量测试具有较高的精准度，可以快速反应测试中的电路的质量问题，充分体现出矢量测试的优势。通过将电路和时间序的矢量测试进行组合，就能提升电路时间序的测试效率。在一般情况下，组合的测试方法分为代数法、随机抽取法、穷举法以及蕴图像法等；在具体的测试路径中，可借助有效的电路模型，进行矢量测试并存储，二者在进行协同工作时相互交换测试码。以保证所得到的数据能够在时间序电路测试中保持一定的合理性。

2.2直流参数测试分析

直流参数测试主要有漏电测试法与电平转化测试两种测试方式，下面将重点介绍这两种测试方法的原理。漏电测试法和电平转化测试法。其中，漏电测试法可以全面且精细化的分析电路设备中所存在的漏电缺陷问题，避免电路设备在使用时出现漏电行为。漏电测试法就具备较强的应用优势。受使用时间的影响，数字集成电路中的相关设备会存在器械老化以此损耗的现象。倘若没有做好对其的及时性检测，就会影响相关电路设备的使用安全性。而通过使用漏电测试方式，就能精准地定位到设备的漏电位置，并完成对该部位的修补，并且在修补的过程中还能认识到电路设备的正常输出和输入功率。而电平转化测试法在具体测试时，就具备较强的针对性，能够准确地定位到某个电路设备。其中，电平转化测试法主要就是测试电路设备中将要失去效用电路部分的临界值电压。

2.3交流参数测试法分析

交流参数测试法与直流参数测试法有着本质的区别，前者是在电路设备进行测试之后进行，后者则是在测试过程中进行。数字集成电路测试系统的技术性主要是通过交流参数测试法进行有效体现的，交流参数测试出的数据能够判断数字集成电路工作状态是否处于正常状态。交流参数测试并不是对整个测试电路的项目都进行测试，主要是通过运用较为专业的检验仪器、合理的检测时间点以及检测顺序，对电路设备进行测试，保障数字集成电路设备处于正常运行的状态。

3数字集成电路系统测试技术的应用

数字集成电路系统完成了基本构成深化后，它的测试功能也会随之增强。测试技术与基本构成二者间属于相辅相成的关系，呈现出良性循环的工作状态，展现出较为丰富的应用价值。在我国数字集成电路系统测试技术中的许多工序都属于研发的关键阶段，需要得到大家的支持与关注。例如，泰瑞达公司生产出的J750以及Hilevel所生产的ETS770，其属于半导体自动测试系统，也是当下使用最为频繁的测试技术。泰瑞达可以解决半导体线路测试所存在的各种问题，并提出有关的解决措施，让其测试工作顺利完成，其具有混合信号模拟存储器以及器件测试所有领域的测试设备。并且，此种测试方式成本支出较少，且测试性能比较强大，应用windows系统完成相应的操作，便可以圆满完成基础的测试。测试性价比十分高。而Hilevel所生产的ETS770，它能够利用测试小版，完成与测试系统的连接工作，快速分析出芯片内容，验证出逻辑功能是否处于正常的应用状态。此种测试方式，属于窗口式的操作界面，操作起来十分简单，能够让

人们快速地适应其操作流程。不管哪一种类型的测试系统，它们都有着属于自己独特的特征，在程序开发使用环境以及硬件配置方面都存在着较大的差异。因此，在实施具体操作时，需要让专业的测试人员根据每一个测试期间的逻辑结构情况以及电特性，打造出一套十分科学的测试过程，让每一个测试步骤都安全便捷，最大限度上发挥出测试系统的绝对优势。测试技术不管应用到哪一领域中，都获得了较大的应用成效，其所形成的价值十分强烈，深受广大人民群众的青睐。因此，有关技术人员在后续的工作中对多个方面的数字集成电路系统的基本构成进行分析，开展深入的研究工作，完善数字集成电路系统的基本构成，使其内容更为丰富。除此之外，还需要打造出较为健全的测试技术体系，从多个角度进行技术提升工作，以此保障技术的可操作性以及功能性。

结语

数字集成电路作为重要的技术，在研究发展过程中需要其他技术的支持，其中测试技术是其中的重要的内容，通过对测试技术的有效应用，可保证数字集成电路的应用效果，对其进行不断的完善。合理应用直流参数测试、交流参数测试技术来开展测试，合理选择相应的系统，可保证测试的效果，使测试的可靠性加强，进而为集成电路的设计提供帮助。

参考文献

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[2]王柱.数字集成电路测试技术应用分析[J].科技创新与应用,2020(12):148-149.

[3]于维佳,秦臻,潘羽.数字集成电路系统基本构成与测试技术研究[J].无线互联科技,2015,(18):39-40.

作者简介：杨晓萍，1988.6.5，女，汉族，辽宁沈阳人，硕士研究生。主要研究方向：集成电路。