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85 个结果
  • 简介:利用角分辨紫外光电子谱对乙烯和乙炔气体在Ru(1010)表面的吸附及与K的共吸附的研究结果表明:当衬底温度超过200K,乙烯即发生脱氢反应,σCH和σCC能级均向高结合能方向移动。在室温下,σCH和σCC能级位置与乙炔在Ru(1010)表面的吸附时的分子能级完全一致。乙烯发生脱氢反应后的主要产物为乙炔。衬底温度从120K到室温,Ru(1010)表面上乙炔的σCH和σCC能级均未发现变化。室温下乙炔仍然可以在Ru(1010)表面以分子状态稳定吸附。在有K的Ru(1010)表面上,室温时σCC谱峰几乎。碱金属K的存在促进了乙炔的分解。

  • 标签: C2H2 C2H4 K Ru(1010) 共吸附 UPS
  • 简介:Moleculardynamicssimulationswereperformedtostudytheinteractionbetweenatomichydrogenandsiliconcarbide.Inthepresentstudy,wefocusontheeffectofthesurfacetemperatureonHinteractingwithsiliconcarbide.ThesimulationresultsshowthattheretentionofHatomsinthesampledecreaseslinearlywithincreasingsurfacetemperature.ThedepthprofileanalysisshowsthatthesampleismodifiedbyHbombardment,andthedensityofHatomsisgreaterthanthoseofSiandCatomsneartheinterfaceregionbetweentheH-containingregionandthebulk.However,nearthesurfaceregionthedensitiesofH,SiandCatomsarealmostequivalent.Inthemodifiedlayer,thebondsconsistofSi-CandSi-HandC-H.ThefractionofSi-Cbondsisthegreatest.OnlyafewC-Hbondsarepresent.

  • 标签: 相互作用 SIC 温度效应 分子动力学模拟 MD 表面温度
  • 简介:Ahighlyreliableinterfaceofself-alignedbarrierCuSiNthinlayerbetweentheCufilmandthenano-porousSiC:H(p-SiC:H)cappingbarrier(k=3.3)hasbeendevelopedinthepresentwork.Withtheintroductionofself-alignedbarrier(SAB)CuSiNbetweenaCufilmandap-SiC:Hcappingbarrier,theinterfacialthermalstabilityandtheadhesionoftheCu/p-SiC:Hfilmareconsiderablyenhanced.AsignificantimprovementofadhesionstrengthandthermalstabilityofCu/p-SiC:H/SiOC:Hfilmstackhasbeenachievedbyoptimizingthepre-cleanstepbeforecap-layerdepositionandbyformingtheCuSiN-likephase.ThiscaplayeronthesurfaceoftheCucanprovideamorecohesiveinterfaceandeffectivelysuppressCuatommigrationaswell.

  • 标签: 界面粘结强度 热稳定性 SIOC 膜表面 等离子体处理 堆栈
  • 简介:AnovelfittingprocedureisproposedforabetterdeterminationofH2rovibrationaldistributionfromtheFulcher-abandspectroscopy.WehaverecalculatedthetransitionprobabilitiesandtheresultsshowthattheydeviatefromFranck-Condonapproximationespeciallyforthenon-diagonaltransitions.Wealsocalculatedthecompletesetsofvibrationallyresolvedcrosssectionsforelectronimpactd3∏u-X3∑gtransitionbasedonthesemi-classicalGryzinskitheory.AnexampleofexperimentalstudyconfirmsthatcurrentapproachprovidesatoolforabetterdiagnosticsofH2rovibrationaldistributioninelectronicgroundstate.

  • 标签: 低温等离子体 转振激发 氢气分子 Fulcher-α波段分光镜
  • 简介:Thedeviceofacetyleneproductionbyhydrogen(H-)plasmapyrolysiscoalisexaminedanddevelopednotonlyforstudyingtheapplicationoflowtemperatureplasmabutalsoforstudyingthecleanuseofcoal.Thepower-supplycontrolsystemisusedtoensuresupplyingasteadyenergytogenerateandmaintaintheplasmaelectricarcofthedevice.Thehardwareconfigurationandthesoftwaredesignofthesystemaredescribedinthispaper.Verifiedbyexperiments,thissystemcanmeettherequirementsofreal-timeperformance,reliabilityandextensibilityforthedevice.

  • 标签: 电源控制系统 氢等离子体 高温分解 乙炔
  • 简介:本文通过对三聚氰胺(C3N6H6)的室温高压原位同步辐射能量散射x-ray衍射实验(EDXRD),在14.7GPa压力范围内,观察到常压下为单斜晶系的三聚氰胺经历了两次压致结构相变。在1.3GPa下,三聚氰胺分子晶体从单斜相转变为三斜相;在8.2GPa又转变为正交相。

  • 标签: 三聚氰胺 C3N6H6 压制结构 相变 EDXRD 单斜晶系
  • 简介:利用扩展X射线吸收精细结构技术对用化学共沉淀法制备的非晶和纳米ZrO2·15%Y2O3体系进行了研究。分析结果显示,在从非晶态向纳米结构晶化的过程中,最近邻的Zr-0配位层的配位数和键长没有发生明显的改变,说明300℃温度处理的样品已经形成的900℃温度处理相同的最近邻局域结构。而对于Zr-Zr(Y)配位层,随着晶粒尺寸的减小,配位数明显降低,键长显著缩短,具有比Zr-O配位层更大的无序。这些结果表明晶粒尺寸的变化对于较远配位层的影响要比对最近邻的影响大得多。

  • 标签: ZrO2 Y2O3 EXAFS 晶化 配位数 键长
  • 简介:利用XRD、TPR和EXAFS等手段考察了焙烧温度对Cu/MnO2/ZrO2催化剂性能影响,结果表明,随着焙烧温度增加,铜的配位环境发生变化,铜和锰之间相互作用增强,有效地防止铜组分在还原及反应过程中聚集长大,从而使催化剂活性显著增加,当催化剂经过高温焙烧,催化剂活性由于ZrO2结晶和铜的聚集而降低。

  • 标签: Cu/MnO2/ZrO2催化剂 焙烧温度 活性测试
  • 简介:采用水热合成法制备了Ni/CeO2-ZrO2-A12O3催化剂。进行了添加和不添加水蒸气的CH4-CO2催化重整反应,测量了积碳量,并用EXAFS手段测试了催化剂Ni的K吸收边。结果表明,反应前后最近邻Ni—Ni配位距离无明显变化,而配位数却变化明显。无水蒸气反应后Ni-Ni配位数有较大幅度的减少,而添加了水蒸汽,Ni—Ni配位数比反应前减少幅度小。水蒸气的添加能减少积碳量,稳定催化剂中Ni的结构,从而提高催化反应的稳定性。

  • 标签: 水蒸气 CH4 CO2 Ni/CeO2-ZrO2-A12O3催化剂 水热合成法 EXAFS
  • 简介:ThisworkinvestigatedC2F6/O2/ArplasmachemistryanditseffectontheetchingcharacteristicsofSiCOHlow-kdielectricsin60MHz/2MHzdual-frequencycapacitivelycoupleddischarge.FortheC2F6/Arplasma,theincreaseinthelow-frequency(LF)powerledtoanincreasedionimpact,promptingthedissociationofC2F6withhigherreactionenergy.Asaresult,fluorocarbonradicalswithahighF/Cratiodecreased.Theincreaseinthedischargepressureledtoadecreaseintheelectrontemperature,resultinginthedecreaseofC2F6dissociation.FortheC2F6/O2/Arplasma,theincreaseintheLFpowerpromptedthereactionbetweenO2andC2F6,resultingintheeliminationofCF3andCF2radicals,andtheproductionofanF-richplasmaenvironment.TheF-richplasmaimprovedtheetchingcharacteristicsofSiCOHlow-kfilms,leadingtoahighetchingrateandasmoothetchedsurface.

  • 标签: 等离子体化学 放电特性 蚀刻 薄膜 双频率 功率LED