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  • 简介:采用Sn3.5Ag(221℃)Indium8.9T3-83.5%的焊膏,首先做了焊料的可焊性试验,随后设计了围框的密封焊试验,工艺样件由Cu80W镀金底板和柯伐镀金围框组成,在270℃恒定温度下,焊接时间2min。最后对焊接后的样件做了X-ray空洞率及焊接层面微观检测分析并测量了IMC厚度。研究结果表明:不仅Sn3.5Ag焊料的可焊性好,而且在镀金层上的致密性也好,在X光透射下柯伐镀金围框的空洞率低于5%,只是随时可能产生的小气孔会严重影响焊接的密封性。

  • 标签: Sn3.5Ag 密封焊 可焊性 X-RAY 空洞率
  • 简介:在无技术的课题讨论上,我想最缺乏的是无技术的有效导入和管理方法。到目前为止,大多数较有经验和成果的无用户,多是那些参与无技术研究开发的国际大企业,或是有大客户全面支援的加工厂。前者由于是带研发性质,在时间和成本压力上会较为松懈。好些参与研究开发工作的,有些已经有15年的历史经验,即使是较后期开始无工作的,也多有3、5年历史经验。时间上压力不如目前受到法令或客户限制而将要导入的用户大。不只是在时间方面,在成本上的压力,由于有研发预算也属于较小,

  • 标签: 无铅技术 SMT 导入管理 制造模式
  • 简介:作为一家为整机厂提供配套产品的企业,必须及时响应客户的需求,并提前在技术和工艺方面进行部署和准备。

  • 标签: 无铅工艺 案例 配套产品
  • 简介:目前正处于从有产品向无产品过渡的特殊阶段。由于对无焊点的长期可靠性等方面问题的研究还处在初期研究阶段,有和无混用时,可能会发生材料之间、工艺之间、设计之间不相容等问题而影响电子产品的可靠性。本文主要讨论过渡阶段有、无混用对可靠性的影响,以及通过对有誊无混用制程分析,介绍不同工艺(再流焊与波峰焊)、不同的元件(无引线或有引脚元件与BGA、CSP等球栅阵列元件)、不同混用情况对焊点可靠性的影响及过渡阶段有和无混用的应对措施与应注意的问题。文章中的观点供参考并与同行共同讨论。

  • 标签: 无铅焊接 无铅焊料 无铅元器件 无铅印制板 无铅物料管理 无铅焊点可靠性
  • 简介:前言:上期我们谈到“无技术的发展和对中国SMT界的影响大观”,知道了无技术的推行只是个时间上的问题。而对某些行业和企业来说,虽然距离必须推行的期限还有一段时间,不过当考虑到推行所需要的大量准备工作时,此刻已经可算是件急事了。我在下期的文章中会和大家分享在无技术的引进和管理工作上的一些关键的考虑点。

  • 标签: 无铅技术 企业 中国 推行 无铅工艺 行业
  • 简介:五、引脚锡须(TinWhisker)与避免5.1PCB表面处理的I-Sn层.由于厚度须在10um以上.以降低储存期不断生成的1MC所带来的负现影响,如此将难免造成短须(50um以下)的生长。通常连高锡量的无焊点也会长出短须.但这都还不算太严重的问题。

  • 标签: 无铅焊接 表面处理 无铅焊点 储存期 PCB 引脚
  • 简介:近年来污染广泛地受到了人们的重视。2003年2月13日欧盟颁布WEEE/RoHS法案,在世界范围内引发了一场电子封装的无化革命。本文综述了电子封装技术的现状以及我国如何面对无

  • 标签: 电子封装 无铅化 环境保护 无铅焊料 导电胶
  • 简介:2006年7月1日,欧盟两个指令正式实施,业界将进入无焊接时代,由于焊接温度的提高,对板材耐热性提出更高要求,业界应面对现实,及早采取对策,迎接新的挑战!

  • 标签: 覆铜板 无卤 2006年 无铅焊接 焊接温度 耐热性
  • 简介:近年来污染广泛地受到了人们的重视.2003年2月13日欧盟颁布WEEE/RoHS法案,在世界范围内引发了一场电子封装的无化革命.本文综述了电子封装技术的现状以及我国如何面对无化的问题.

  • 标签: 电子封装 无铅化 环境保护
  • 简介:任何新技术的出现,势必产生对精细加工的更高要求,从而有利于采用主流技术和持续改进工艺过程。在无铅制造中,第一个障碍就是合金和化学制剂的选择,这也是一个基本的过程。根据早期对合金和化学制剂选择方面的工作的理解,我们对影响产能的主要因素作了进一步优化。这些因素包括温度曲线、PWB的表面处理、元器件的金属喷镀、阻焊膜的选择或网板设计。由于网印对直通率的影响很大,而且与基于的焊料相比,无铅合金在湿润性方面表现出很大的差异,本文作者对网板的几何开孔方法进行了研究,旨在优化出理想的SMT特性。我们系统的研究了无铅合金在部分表面处理上浸润性较差的问题;同时,尝试了最大化焊盘覆盖率面的开孔设计,这样可以减少缺陷——像MCSB(mid—chipsolderballs)。除了参考网板开孔设计指南,还将重新评估整个网板设计的优化方法。

  • 标签: 网印 无铅合金 SMT 网板设计 过程控制
  • 简介:本文通过大量的数据信息分析了各研究机构在无焊料方面的研究成果,在目前流行使用的无焊料的基础上,进一步研究并比较了其中的Sn—Cu系列与具有专利限制的SnAgcu系列焊料在消费类电子产品组装的波峰焊工艺中使用的可靠性,同时研究并比较Sn—Ag系列焊料与SnAgcu系列焊料在回流焊工艺使用的情况。结果表明,Sn—Cu共晶焊料在消费类电子产品组装的波峰焊工艺中完全可以取代Sn-Ag-Cu系列焊料,同时满足使用要求;而同样技术成熟的Sn—Ag共晶焊料也完全可以取代SnAgCu系列焊料在回流焊工艺使用,焊点的可靠性与成本可以媲美SnAgcu焊料,而且该二元合金在使用维护以及回收利用方面具有相当的优势。因此,国内相关企业应大力推动使用无专利限制的SnAg与SnCu共晶焊料,以改变国外专利产品在电子制造领域的统治地位,使我国企业在无化电子制造的潮流中占有一席之地.

  • 标签: 无铅焊料 可靠性 共晶焊料 SNAGCU SNAG SnCu
  • 简介:从63/37共晶舒料转为无扦料而不应增加缺陷,对由此而来的新工艺进行了审视。本文验证了再流焊工艺以及不同舒料和焊剂的特性和它们对常见缺陷如焊接坍塌、锡珠、钎料桥接、润湿和无润湿、空洞等的影响。

  • 标签: 无铅(Pb)工艺 钎料 热温度曲线 SAC合金 SMT 缺陷
  • 简介:  在过去的30年中,电子工业的许多革命,诸如从通孔安装到表面组装技术(SMT)的转变,从周边封装转变到面阵列封装的革命已席卷了或正在席卷着整个封装界.这些革命中的每一步对封装结构的变化都产生了巨大的影响.但是,这些革命与我们当前刚刚开始的革命--从钻基焊料到无焊料的转变比较起来就显得微不足道了.  ……

  • 标签: 工业无铅 无铅时代 电子工业
  • 简介:最新研究显示,无焊接可能是很脆弱的,特别是在冲击负载下容易出现过早的界面破坏,或者往往由于适度的老化而变得脆弱。脆化机理当然会因焊盘的表面处理而异,但是常用的焊盘镀膜似乎都不能始终如一地免受脆化过程的影响,这对于长时间承受比较高的工作温度,和威机械冲击或剧烈振动的产品来说,是非常值得关注的。

  • 标签: 无铅焊接 弱性 脆化机理 界面破坏 冲击负载 表面处理
  • 简介:欧盟RoHS法令已从2006.7开始执法,虽说禁用物质共有六项,但对PCB与CCL所造成的影响,其实却只有无焊接而已。FR-4板材中所惯用的阻燃剂(FlameRetardent)四溴丙二酚(Tetra-Bromo-BisphenolA;早期此词一向简称为TBBA,不知为何最近又流行起TBBPA了),

  • 标签: 无铅焊接 覆铜板 ROHS 禁用物质 FR-4 CCL
  • 简介:一、符合欧盟WEEE指令的无产品标示依照欧盟WEEE指令规范,2005年8月13日后被WEEE列名规范的十大类产品,在欧盟会员国内销售时,应按WEEE附录所列的标示图案,标示在产品上。欧盟委员会及CENELEC便依据上述的要求,拟定了BTTF116—3及prEN50419二项规范(注:BTTF116—3及prEN50419已于2004年5月发布最后的草案版)。WEEE指令中相关的标示要求,如图1及图2所示

  • 标签: 标示 产品 无铅 WEEE指令 2004年5月 2005年