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  • 简介:本文用EXAFS对三种钴基合成柴油催化剂进行了表征,结果表明Co-Zr共沉淀催化剂与Co/Zr浸渍型催化剂钴物相主要为Co3O4,Co-Zr-Si混合沉淀型催化剂钴物相主要为Co2SiO4,共沉淀催化剂钴配位数明显降低,钴锆相互分散好,接触界面大,因而反应活性高,重质烃选择性高,而混合沉淀型催化剂Co2SiO4物相在预处理条件下难以还原,所以反应活性低,重质烃选择性较差。

  • 标签: 合成 柴油 Co基催化剂 EXAFS 表征
  • 简介:当散射体系中除散射体外还存在微电子密度起伏时,实测散射强度将形成对Porod定理正偏离,从而使散射体散射失真。提出了一种在长狭缝准直条件下应用模糊强度校正正偏离方法:作出ln[q^3I^-(q)]-q^2曲线,用公式n[q^3I(q)]=InK'+σ^2q^2拟合大波矢区直线,求出斜率σ^2,作出ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2-q^2曲线即为无偏离Porod曲线,由此曲线再还原出无偏离散射强度,即I^-'(q)=exp{ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2}/q^3,再以醇热法合成介孔氧化锆粉体为例进行了讨论。

  • 标签: 小角X射线散射 Porod定理 正偏离 校正 介孔氧化锆粉体 醇热法
  • 简介:利用同步辐射(BSRF)漫散射站四圆衍射仪,对SiC体单晶结构进行了判定以及对利用常压化学气相沉积(APCVD)生长3C-SiC/Si(001)中孪晶及含量进行了分析。六方{10-15}极图证明了该SiC单晶为6H(H为Hexagonal缩写)结构。对3C-SiC外延薄膜,Φ扫描证明了3C-SiC外延生长于Si衬底上,外延取向关系为:(001)3C-SiC//(001)Si,[111]3C-SiC//[111]Si。3C-SiC{111}极图在x=15.8°出现了新衍射,采用六方{10-10}极图以及基体倒格点111、孪晶倒格点002Mapping分析了x=15.8°处产生衍射为3C-SiC孪晶所致,并利用ω扫描估算了孪晶含量约为1%。

  • 标签: X射线四圆衍射仪 SiC体单晶 3C-SiC外延层 孪晶 APCVD 碳化硅
  • 简介:采用Czochralski法,我们成功地生长了大尺寸GdCa4O(BO3)3单晶。在对晶体完整性进行检测过程中发现:晶体中存在亚晶界,该晶界贯穿整个大单晶。由于亚晶界两边单体存在取向差,在同步辐射形貌像中可观察到像漂移。根据高分辨X射线衍射所确定取向差,我们计算了对应几个典型衍射形貌像漂移,计算结果与从形貌像中测量结果符合得很好。

  • 标签: GdCa4O(BO3)3晶体 小角晶界 同步辐射 形貌 像漂移 非线性光学晶体
  • 简介:同步辐射软X射线(白光)对InP表现进行了辐照。并对样品表面电子结构作了UPS和XPS分析。结果显示,样品表面电子态变化明显,P3a峰化学位移大于In4d峰。与In非键合P2p峰面积辐照后显著增加。说明软X射线对InP表现F原子电离损伤要大于In原子。

  • 标签: 软X射线 INP 表面微结构 磷化铟 半导体 电离损伤
  • 简介:LiGaO2与GaN晶格失配率只有0.2%,是一很有潜力蓝光衬底材料。本文利用化学侵蚀、光学显微镜、透射电子显微镜对晶体中缺陷进行了分析,研究了生长参数、原料化学配比对晶体质量影响及其和晶体中缺陷形成关系。TEM分析表明,由于原料近非化学计量比挥发致使组份偏离,容易产生γ-Ga2O3包裹物。包裹物和位错形成具有一定相互促进作用。X射线貌相分析发现提拉法生长LiGaO2晶体中易于形成平行于(001)面的亚晶界,这可能和其沿[001]方向极性有关。

  • 标签: GAN 外延衬底材料 LiGaO2晶体 X射线貌相术 氮化镓 TEM
  • 简介:用微米束同步辐射X射线荧光法(μ-SRXRF)对国际原子能机构(IAEA)研制可用于核技术微量分析两种固体微量生物标准参考物地衣IAEA-338和海藻IAEA-413样品中各种微量元素进行了检测,并对这种标准参考物均匀性进行了检验。结果表明:这两种微量固体生物标准参考物均匀度达到了预定指标。

  • 标签: SRXRF 同步辐射X射线荧光法 微量生物标准参考物 均匀性检验 核技术 微量分析
  • 简介:同步辐射已经成为高压研究一个非常理想光源。在北京同步辐射装置(BSRF)上、结合金刚石对顶砧超高压实验技术建立起来能量色散X射线粉末衍射系统,已用于物质状态方程和结构相变研究。介绍了能量色散衍射方法,以及同步辐射原位测试过程。

  • 标签: 同步辐射 高压条件 能量色散 X射线粉末衍射 原位测试 晶体结构
  • 简介:根据8.5XAFS束线改进工程需要,我们设计了一种应用于同步辐射光束线狭缝,该狭缝不但可限制同步辐射光束截面尺寸,同时具有光束线位置探测功能。可以方便地测量光束垂直分布及中心位置:迅速准确地准直狭缝及对光束移动做实时监测。

  • 标签: 束线位置探测功能 8.5XAFS束线改进工程 同步辐射光束线 狭缝
  • 简介:高剂量X射线粉末衍射测试说明升高温度有利于γ-Al2O3/Si外延生长,单晶衍射法证明应用低压CVD和高真空外延技术在我们实验室生长出γ-Al2O3/Siuj单晶薄膜。它们结晶关系是(100)γ-Al2O3//Si,[010]γ-Al2O3//[010]Si。

  • 标签: 异质外延 氧化铝 X射线 测试 半导体
  • 简介:通过原位担载法将铁系催化剂担载于煤表面,考察了催化剂前驱体相态、配位环境以及在载体表面的分散状态。采用X射线吸收精细结构和X射线衍射法对原位担载型铁系催化剂前驱体进行了表征。结果表明,催化剂前驱体在煤表面以非晶态、高分散形式存在,其化学组成主要为FeOOH,且催化剂前驱体分散程度与载体煤物理化学性质有关。

  • 标签: 表征 硫化铁 原位担载 催化剂 前驱体 煤液化
  • 简介:用X射线摇摆曲线和掠入射衍射、透射电镜、原子力显微镜等实验技术研究了MBE方法生长Si缓冲层生长温度对SiGe/Si异质结结构影响。结果表明,所研究SiGe外延层晶格发生完全弛豫,但表面粗糙度和界面失配位错随Si缓冲层生长温度而变化,最佳生长温度为450℃;缓冲层晶格应变是达到高质量SiGe外延层主要原因。

  • 标签: Si缓冲层 生长 温度 SiGe外延层结构 X射线 晶格