简介:成像板是一种新型的集成式面探测器系统,近年来被广泛用于X光,特别是高强的同步辐射X光实验。为改善BSRF的探测条件和水平,最近BSRF购进了一套日本FujiFilm公司生产的BAS-2500成象板探测系统,提出供给广大用户使用。本文介绍了IP的工作原理、特性及应用,并对BSRF的IP探测系统作一简要介绍。
简介:新型硅P-N结光电超二极管对光于能量响应范围已达到了X射线范围。它具有线性范围大,能量响应范围宽,量子效率高等优点,因而适用X射线之探测。本文介绍了以光电二板管构成同步辐射XAFS探测器替代传统的电离室探测器组合的研究工作,给出了的探测器结构设计,工作原理,实验结果及讨论。
简介:
简介:根据8.5XAFS束线改进工程的需要,我们设计了一种应用于同步辐射光束线的狭缝,该狭缝不但可限制同步辐射光束的截面尺寸,同时具有光束线位置探测功能。可以方便地测量光束的垂直分布及中心位置:迅速准确地准直狭缝及对光束移动做实时监测。
简介:论文介绍在北京同步辐射装置(BSRF)的实验条件下,用同步辐射X-射线荧光微探针对单个流体包裹体作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹体鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光、进行探测等。在20μm×10μm和10μm×10μm束斑下对几种类型流体包裹体作了测试分析,结果表明,矿物包裹体与主矿物中所含的微量元素的种类比较一致,只是在含量上有明显区别,它可以指示某种金属矿床和某种伴生矿的存在;而储集层中不同油井和层位的有机包裹体中所含微量元素的特征,可用于研究油气的成因和演化。
简介:本文简述流体包裹体研究的意义。介绍在BSRF的实验条件下,用同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹体作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹体鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光,进行探测等。在20×10μm^2和10×10μm^2束斑下对几种类型流体包裹体作了测试分析,并对结果作了讨论。
简介:软X射线计量标准的建立和软X射线探测器标定是目前国内急需解决的课题,本文简单介绍了两套北京同步辐射软X射线装置,它们主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。另外给出了近年来在软X射线测量装置上开展的计量标准和探测器标定方面的研究结果。
简介:简单介绍了2套北京同步辐射软X射线装置,主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。给出了在软X射线测量装置上计量标准和探测器标定方面的研究结果。
简介:在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X-射线在样品表面激发出的电子产额随X-射线能量的变化,提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明,在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单,可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立,有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。
简介:详细介绍了软X射线绝对光强测量系统的设计和结构及其标定的情况和结果。测量系统包括电离室、监测(或待标定)探测器及其传动系统两部分,可作为50-2000eV软X射线绝对强度测量的一级标准探测器,并给出了系统的偏差。
简介:初步测量了弯曲导管束对“水窗”波段及其附近X光的响应,结果表明X光在“水窗”段的响应,比其之外的响应要高。
简介:介绍了利用北京同步辐射实验室的全反射X射线荧光谱仪测量生物细胞样品的可行性;用此谱仪测量了正常的和受辐照的小白鼠小肠细胞的痕量元素含量,发现K、Ca、Fe等元素含量有明显提高,Cu元素含量明显降低,Mn元素含量变化不大,Zn元素含量基本稳定;讨论了其在临床医学上的重要价值。
简介:X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段。利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据逆向求解原子深度分布的分层逼近法,研究了不同温度下分子束外延生长的δ掺杂(Sb)Si晶体样品,成功地测量了样品中几个纳米范围内的Sb原子深度分布,所得结果表明,300℃以下是用分子束外延方法在Si晶体中生长Sb原子δ掺杂结构的合适温度。
成象板面探测器系统
XAFS实验探测器的研究
用成像板探测正电子实验
同步束线上PSS探测限及其应用研究
具有束线位置探测功能的同步辐射束线狭缝
同步辐射X—射线荧光微探针对单个流体包裹体的探测分析
同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹体的探测分析
北京同步辐射软X射线装置与软X射线探测器标定
测量XAFS谱的全电子产额技术
固体薄膜、超薄膜X射线测量结构表征
软X射线绝对光强测量系统及其标定
弯曲导管束对软X光的响应测量
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
用同步辐射X射线荧光微探针对石油地质样品作微量和微区分析
超薄层、亚单原子层固体薄膜的X射线测量结构表征
全反射X射线荧光分析测量小白鼠小肠细胞的初步研究
同步辐射X射线反射技术及其在测量δ掺杂晶体中原子表层深度分布的应用