简介:利用热氧化法,在紫外线光源催化作用下,在N型硅衬底上沉积氧化镍(NiO)薄膜,制备具有半导体特性的NiO/Si异质结二极管。使用JASCONRS-3100测量薄膜拉曼散射频谱,分析不同氧化时间、不同紫外线光源、不同退火条件对NiO薄膜性能的影响。实验结果表明:氧化时间为60min时,金属Ni能够充分氧化;含臭氧水银灯比金属卤化物灯更有助于金属Ni的氧化反应;氮气下退火30min,有助于消除晶格损伤,改善薄膜特性。通过PhillipsX’Pert衍射仪分析NiO薄膜的晶体结构,KeysightB1500A半导体参数测量仪测量NiO/Si二极管的I-V特性,当二极管两端电压分别为2V和-2V时,电流密度相差3个数量级,表现出良好的整流特性。
简介:作者在积累氦质谱组合检测中发现存在粗漏漏检现象,美国宇航局2013年2014年的研究报告揭示,各种组合检测复测中均存在粗漏细漏漏检现象。文章对积累氦质谱组合检测和氩粗漏氦细漏组合检测的粗漏检测,提出了确定最长粗漏检测时间的方法;对这两种组合检测和氦质谱检测的细漏检测,综合给出了定量确定和拓展细漏检测最长候检时间的方法,论证了压氦压力不应小于2倍的大气压力,提出了确定预充氦法和预充氦氩法最小候检时间的方法,提出了确定最长细漏检测时间的方法,从而可减少和防止粗漏和细漏漏检;并通过对美国宇航局报告中实例的分析,验证了以上方法的有效性。同时指出漏孔堵塞是造成漏检的原因之一,但不是形成微型元器件高比率漏检的主要原因。
简介:针对传统基于微波手段的空间对地观测主要方法——星载合成孔径雷达(SAR)体制受限于目标与雷达的相对运动问题,结合由量子关联成像发展而来的微波关联成像技术,提出了一种新的通过多颗分布式卫星实现凝视成像方法。首先,在微波关联成像的基础之上,建立一维微波关联成像的信号模型。然后,在极坐标系下,通过一维微波关联成像实现对回波半径向的“聚焦”,得到单部雷达对目标的距离环图像。其次,通过N颗分布式星载雷达得到距离环方程组,联立方程组解算目标位置信息,实现二维分辨能力;确定位置信息之后,进一步通过距离环幅度方程组解算目标幅度信息。最后,通过对稀疏场景进行仿真、成像处理,验证了该方法的有效性。
简介:精确估计计算资源的规模是气象集约化资源池合理设计的关键,但是由于应用对计算资源需求可能突发增长,应用部署方案种类繁多等因素的存在,致使计算资源规模估计困难。为解决该问题,本文对计算资源容量规划问题进行建模,并在分析问题求解难度的基础上,根据问题的特点设计了一种基于离散差分进化算法的计算容量估计方法。在问题建模上,本文采用资源预留策略来保证应用能获取足够的计算资源。在方法设计上,方法首先建立了应用的部署顺序与计算资源容量规模的映射关系,并以所需参考服务器的规模和资源利用水平来综合评估应用部署顺序的适应度;然后,通过随机方式生成初始方案,并以适应度为评价标准,利用变异、交叉、局部搜索等操作改变应用的部署顺序;最后,通过迭代搜索估计计算资源所需的规模。实验结果表明该方法能有效估计计算资源容量的规模。