简介:我们大家习惯的影视画面比例通常是4:3、16:9以及2.35:1等模式,而在2009年的建国60周年大庆上,天安门广场人民英雄纪念碑前矗立起两块超长的显示屏幕,画面的宽高为8:1的比例,除了配合国庆主题显示标语口号外还能播放清晰的动态影像,其超大的尺寸给广场的游客带来了视觉上的震撼和新奇的感受。但是在国庆后不久就和其它庆典设施一同拆除了。这不能不说是个不小的遗憾。2010年五一节前,北京市委宣传部决定将大屏幕重新安装在原址并打算永久设立,成为天安门地区新的标志景观。并由天安门地区管理委员会负责实施,而播放内容则由中央电视台和北京电视台共同摄制。因为具体实施上的需要,北京电视台邀请笔者参与了拍摄制作。主要负责《北京颂》的拍摄制作。
简介:本文用光荧光(PL)方法研究了磷离子注入具有两个不同发射波长的InGaAsP/InP双量子阱结构引起的混合.注入能量为120keV,剂量范围为1×1011-1×1014/cm2.注入后,在高纯氮保护下,样品在700℃进行快速热退火30秒.实验结果表明,小剂量注入(~1011/cm2)能较好地诱导近表面阱的混合,且两个阱保持了不同发射波长,说明离子注入诱导量子阱混合与注入深度有关.大剂量注入(>1012/cm2)时,发射波长为1.59μm量子阱混合的程度(蓝移值大于130nm)超过了1.52μm量子阱混合的程度,且两个阱的PL发射峰基本上合并成一个单峰.
简介:针对抗辐照SOIPMOS器件的直流特性与低频噪声特性展开试验与理论研究,分析离子注入工艺对PMOS器件电学性能的影响,并预测其稳定性的变化。首先,对离子注入前后PMOS器件的阈值电压、迁移率和亚阈摆幅进行提取。测量结果表明:埋氧化层离子注入后,器件背栅阈值电压由-43.39V变为-39.2V,空穴有效迁移率由127.37cm2/Vs降低为80.45cm2/Vs,亚阈摆幅由1.35V/dec增长为1.69V/dec;结合背栅阈值电压与亚阈摆幅的变化,提取得到埋氧化层内电子陷阱与背栅界面态数量的变化。随后,分析器件沟道电流噪声功率谱密度随频率、沟道电流的变化,提取γ因子与平带电压噪声功率谱密度,由此计算得到背栅界面附近的缺陷态密度。基于电荷隧穿机制,提取离子注入前后埋氧化层内陷阱态随空间分布的变化。最后,基于迁移率随机涨落机制,提取得到离子注入前后PMOS器件的平均霍格因子由6.19×10-5增长为2.07×10-2,这表明离子注入后器件背栅界面本征电性能与应力稳定性将变差。