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  • 简介:香港流动电话号码可携的咨询期已结束,据了解,香港政府盼望尽快落实上述政策,令香港流动电话用户既可保留原有电话号码,又可选择转用其他经营商的网络服务,

  • 标签: 香港政府 电话号码 经营商 电话用户 政策 流动
  • 简介:由于导通及开关损耗小以及易于使用等优点,IGBT在电力电子系统中得到越来越广泛的应用。在设计电路之前,需要精确的器件模型及模型参数对电路进行仿真。本文提出一种基于实验测量、仿真及优化算法的IGBT模型参数辨识方法。以BUP302为例,给出了静态参数及动态参数的结果。在参数辨识的基础上,文中还提出了模型参数有效验证的方法,最后给出了有效验证结果。

  • 标签: IGBT模型 参数辨识 有效性验证
  • 简介:从电子元器件的选择、控制和使用等诸多方面讨论电子元器件的应用可靠,包括质量等级、失效率等级、选择原则与质量控制;微电子器件的应用可靠(过应力损伤、降额使用、二次筛选);阻容元件的使用可靠(电阻器、电位器、电容器)及其他元件的选择和应用(继电器、微波元件、连接器)。

  • 标签: 电子元件 电子器件 可靠性 应用
  • 简介:随着整个社会科学技术水平的高速度发展,人们对电子装置的小型化、高精密提出了越来越高的要求,以挠覆铜箔层压板(以下简称“挠覆铜板”)制造出的挠印制电路则在此方面起着越来越重要的作用。

  • 标签: 覆铜板 层压板 挠性 介电性能 覆铜箔 尺寸稳定性
  • 简介:从电子元器件的选择、控制和使用等诸多方面讨论电子元器件的应用可靠,包括质量等级、失效率等级、选择原则与质量控制;微电子器件的应用可靠(过应力损伤、降额使用、二次筛选);阻容元件的使用可靠(电阻器、电位器、电容器)及其他元件的选择和应用(继电器、微波元件、连接器)。

  • 标签: 电子元件 电子器件 可靠性 应用
  • 简介:从电子元器件的选择、控制和使用等诸多方面讨论电子元器件的应用可靠,包括质量等级、失效率等级、选择原则与质量控制;微电子器件的应用可靠(过应力损伤、降额使用、二次筛选);阻容元件的使用可靠(电阻器、电位器、电容器)及其他元件的选择和应用(继电器、微波元件、连接器)。

  • 标签: 电子元件 电子器件 可靠性 应用
  • 简介:目前,国内相当多的印制板厂都处在QFP封装①为主的表面安装印制板量产化阶段,此类PCB②互连密度较以往有大幅度提高。在实际生产中此类PCB电测可靠③不高,对生产效率造成很大影响,南京依利安达电测QC小组经过对针床与PCB的改进使这种状况得到改善,有效地提高了生产效率,降低了生产成本。

  • 标签: 探针 针床 电测可靠性 阻焊窗 阻焊桥 QFP焊盘
  • 简介:本文简要介绍了挠印制电路基材的几种产品种类使用国内、外的几种标准,重点评述了中国国家标准,美国IPC标准,日本JISC标准和JPCA标准等几种适用于挠印制电路基材的常用标准,比较了几种常用标准的性能要求种类、典型测试方法的区别及侧重点。

  • 标签: 挠性印制电路板基材 标准 简述
  • 简介:本文介绍了IP网络的高可用概念,并从网络冗余,故障检测与快速切换等几个方面说明了提高IP网络可用的重要技术手段。最后,结合RSVP-TE信令协议讨论了基于MPLS的快速重路由技术的高可用IP骨干网络解决方案。

  • 标签: 高可用性 IP网络 重路由 RSVP-TE 网络冗余 快速切换
  • 简介:EDA协会(EDAC)日前发表市场统计服务报告指出。2005年第一季度全球EDA行业营业收入为9.89亿美元,相比2004年第一季度的9.95亿美元微弱下降近1个百分点;而不含服务收入的首季营收则为9.12亿美元.比2004年同季的9.18亿美元微幅下跌。

  • 标签: 电子设计自动化 印刷电路板 EDA协会 设计复杂性
  • 简介:本文对印制电路板的可制造工艺研究进行了简单的介绍、并对所采用的工艺技术的有效进行了较为详细的论述。

  • 标签: 印制电路板 工艺
  • 简介:过去几年中,移动终端已从单纯的语音电话发展成通用的无线设备。现在,移动电话能够提供原来只有PC才能提供的大量功能。电话的广泛使用及其日益增加的功能为我们带来了若干安全性问题,为了保护用户的安全和满意度,我们需要了解并解决这些安全性问题。

  • 标签: 安全性问题 移动电话 难题 无线设备 语音电话 移动终端
  • 简介:文中介绍了UPS的分类和作用.叙述了IGBT整流技术的应用.并对UPS的电磁兼容及其电磁于扰抑制进行了阐述。

  • 标签: 电磁兼容性 整流技术 IGBT UPS
  • 简介:无铅焊接的焊点可靠性问题受到特别重视。采取高低温温度冲击试验和高温试验,可评估Sn—Ag—Cu焊点强度。通过分析Sn-3.5Ag-0.75Cu和Sn-2Ag-0.75Cu-3Bi焊料的性能,可以研究引起焊点强度下降的因素。主要分析方法包括:使用SEM观察焊点结构变化;使用EPMA完成焊点界面合金层的元素分析。本研究通过对焊点结构变化包括Ag3Sn网格结构变化的分析,揭示出结构退化、

  • 标签: SN-AG-CU 焊点可靠性 温度冲击试验 结构变化 焊点强度 可靠性问题