简介:研究了FeMn/Co多层膜界面插入Bi前后微结构的变化。利用磁控溅射法制备了FeMn/Co多层膜,利用X射线小角反射和漫散射技术进行了表征,得到结果如下:插入Bi之前,在FeMn/Co界面处确实存在FeMnCo的成分混合存在,插入Bi之后,FeMnCo的成分中掺入了Bi。而且,在FeMn/Co界面处Fe,Mn,和Co的元素分布不相同。
简介:全反射荧光分析(TXRF)比常规荧光分析(XRF)具有更高的灵敏度。我们在北京正负电子对撞机同步辐射3W1A新光束线改建的同步辐射荧光站上(更换了新探测器及相应谱仪系统)。用TXRF对肺癌细胞和宫颈癌细胞进行了凋亡前后的研究,得到了这些细胞凋亡前后的荧光谱。从分析这些谱的结果我们可以看到,凋亡前后这些癌细胞中某些微量元素的含量有了变化,甚至是明显变化。从这些变化中我们可得到一些启发,如果能找到它们的变化规律是否可为治疗癌症做一点贡献呢?
简介:在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X-射线在样品表面激发出的电子产额随X-射线能量的变化,提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明,在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单,可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立,有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。
简介:
简介:本文介绍了同步辐射光源的特点,以及在应用于X射线形貌术时带来的各种好处。并通过介绍在北京同步辐射装置上所做的若干实验成果,扼要叙述了同步辐射X射线形貌术在晶体缺陷研究和晶体生长中的应用。
FeMn/Co多层膜界面插入Bi前后的微结构分析
肺癌、宫颈癌细胞凋亡前后微量元素的变化
测量XAFS谱的全电子产额技术
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
同步辐射X射线形貌术在晶体生长和缺陷研究中的应用